Световой микроскоп

Cтраница 3

Максимальная разрешающая способность светового микроскопа 0 2 мкм. [31]

Напомним коротко свойства светового микроскопа. На рис. 247, А представлен ход лучей в проекционном микроскопе, который дает изображение объекта на экране с помощью проекционной линзы, заменяющей окуляр, применяемый для визуальных наблюдений. [32]

Различия в подготовке материалов для светового и электронного микроско.| Заключение препарата и но. с ного стекла на предметное. [33]

Временные препараты для светового микроскопа в отличие от постоянных можно сделать сравнительно быстро. Они пригодны для проведения быстрых предварительных исследований. Материал для этого фиксируют, окрашивают и заключают в ту или иную среду. [34]

Пределом разрешающей способности обычного светового микроскопа является диаметр частиц около 0 2 мк, но при этом размере уже нельзя разобрать деталей формы. В ультрафиолетовом микроскопе Брумберга нижний наблюдаемый размер, который, как известно, тем ниже, чем короче длина применяемых волн, может быть доведен до 0 1 мк. Однако для коллоидных частиц эти пределы слишком грубы. [35]

В отличие от обычного светового микроскопа, в котором контрасты изображения определяются различием показателей преломления разных частей объекта, в электронном микроскопе контрасты изображения зависят от плотности массы объекта. [36]

Подсчет при помощи светового микроскопа количества макро-пор, содержащихся в контрольном образце и в активированном, показал, что после активации их количество понижается практически в пять раз. [37]

На шлифах под световым микроскопом субзеренные границы иногда видны в виде тонкой сетки внутри зерен, оконтуренных значительно более толстыми границами. [38]

По аналогии с обычным световым микроскопом были сконструированы электронные микроскопы, в кото-рых предметы наблюдаются в пропускаемом пучке быстрых электронов, идущих от интенсивного источника электронов ( пушки), главным образом от катода термоионной лампы. Пучки электронных волн исходят от излучающих точек объекта и фокусируются магнитным или электростатическим полем, которое имеет круговую симметрию при изображении точек в плоскости отверстий. Таким способом получается изображение объектов в вакуумной трубке микроскопа, и его можно непосредственно наблюдать на флуоресцирующих экранах или фотографировать на пластинки. [39]

Виды деформации при мартенситном превращении ( схема по Бнлби и Кристиану. [40]

Рассматривая пластины мартенсита в световой микроскоп, очень часто можно видеть тонкую линию, идущую приблизительно по их середине ( в направлении длины) и имеющую более темную окраску. [41]

Для его осуществления необходимы поляризационный световой микроскоп с увеличением X100 и тщательная подготовка поверхности ленты методом, исключающим механическое полирование. Как правило, вполне достаточно хорошо очистить поверхность каким-либо растворителем ( например, ацетоном) и нанести на нее слой ZnS -, который существенно увеличивает контраст на изображении соседних доменов. [42]

К сожалению, для светового микроскопа довольно быстро достигается предел увеличения, и предел этот очень и очень далек от молекулярного уровня. Известно, что разрешающая способность зависит от длины световой волны, проходящей через объект и микроскоп; она равна половине длины волны. [43]

Микрокрис-таллооптический анализ ( использование светового микроскопа) достаточно широко распространен в микрохимии и применяется для качественного анализа. [44]

Дальнейшее увеличение разрешающей способности обыкновенного светового микроскопа наталкивается на непреодолимые трудности. [45]

Страницы: 1 2 3 4 5