Электронный микроскоп

Cтраница 2

Электронный микроскоп неоценим при изучении микробов, фильтрующихся вирусов, катализаторов, ускоряющих различные реакции, разнообразных коллоидных систем и высокомолекулярных соединений. С его помощью Писаренко-и Штарх обнаружили в некоторых высокополимерах ( каучу-ках, капроне) микрохрящи, ухудшающие качество полимеров. Это дает возможность лучше контролировать процессы производства. [16]

Электронный микроскоп - единственный прибор, позволяющий непосредственно видеть и изучать мельчайшие частицы ( агрегаты атомов и молекул), из к-рых состоит большинство твердых тел естественного и искусственного происхождения. Совокупность этих частиц ( тонкая структура) в значительной степени определяет свойства тел. [17]

Схема электронного микроскопа с магнитной фокусировкой ( справа. К - источник электронов. L ( - магнитная линза, служащая конденсором. О-объект. L3 - магнитная линза, служащая объективом. L3 - проекционная магнитная линза. / ] - первичное изображение. /. - изображение на флуоресцирующем экране S.| Схема электронного микроскопа с электрической фокусировкой. К-источник электронов. D-диафрагма. О-объект. L. - электрическая линза, служащая объективом. / ] - первичное изображение. L2 - проекционная электрическая линза. / 2-изображение на флуоресцирующем экране S. [18]

Электронный микроскоп с магнитной фокусировкой обладает большей разрешающей способностью, чем электростатический электронный микроскоп. Увеличить разрешающую способность последнего можно, как это показала Е. М.Дубинина, пользуясь вместо постоянного напряжения на электродах линз кратковременными прямоугольными импульсами с амплитудой, в несколько раз большей, чем постоянное напряжение, допустимое из-за возможного пробоя. [19]

Электронные микроскопы применяются для оценки размера частиц наиболее дисперсных порошков. [20]

Электронный микроскоп дает увеличение до 100 000 раз, что значительно расширяет область применения микроструктурного анализа. В этом микроскопе вместо световых используют электронные лучи, испускаемые вольфрамовой раскаленной спиралью. [21]

Схема простейшего электронного микроскопа. Q - электронная пушка. О - просвечиваемый объект. LI и / 2 - магнитные линзы, представляющие собой объектив и проекционный окуляр. Р - фосфоресцирующий экран. [22]

Электронный микроскоп также успешно применяется для изучения строения поверхности металлов и сплавов. [23]

Электронные микроскопы являются электрошюопти-ческим аналогом микроскопов лучевой оптики. Как и последние, они содержат по меньшой мере две линзы ( рис. 237): объектив, который создает перевернутое действительное промежуточное изображение предмета, и окуляр ( проектор), который передает промежуточное изображение на люминесцентный экран или фотопластинку. В качестве формирующих сред используются осесимметрнчные поля диафрагм или катушек с полюсными наконечника ми. [24]

Электронный микроскоп, дающий на один-два порядка большее разрешение, чем оптический, позволяет подробно изучать тонкую структуру ( субструктуру) металла. [25]

Электронный микроскоп позволяет подробно изучать тонкую структуру ( субструктуру) металла. [26]

Электронный микроскоп, дающий на один-два порядка большее разрешение, чем оптический, позволяет подробно изучать тонкую структуру ( субструктуру) металла. [27]

Электронный микроскоп позволяет подробно изучать тонкую структуру ( субструктуру) металла. [29]

Электронный микроскоп использует те же самые оптические принципы, что и обычный микроскоп, за исключением того, что для фокусирования луча применяются магнитные поля вместо стеклянных линз. Предметы обладают различной прозрачностью для электронов, что дает картину внутренней структуры. Пучок электронов после прохождения через образец значительно увеличивают и фокусируют на фотографической пластинке или на флуоресцирующем экране. Разрешающая сила микроскопа ограничена длиной волны применяемого света. Длина волны электронного луча очень мала по сравнению с длиной волны видимого света. [30]

Страницы: 1 2 3 4