Электронный микроскоп - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 4
Лучше уж экстрадиция, чем эксгумация. Павел Бородин. Законы Мерфи (еще...)

Электронный микроскоп

Cтраница 4


46 Микрофотографии частиц угольной и атмосферной пыли. [46]

Электронные микроскопы часто используются в комбинации с описанными выше приборами для непосредственного исследования частиц с размерами от 0 001 до 5 мк.  [47]

Электронный микроскоп является весьма ценным и точным прибором, позволяющим изучать микробов, фагов, фильтрующиеся вирусы, некоторые катализаторы и разнообразные коллоидные системы.  [48]

Электронный микроскоп позволяет исследовать объект на просвет в широком диапазоне увеличений, получать темнопольные и светлопольные изображения, проводить дифракционные исследования избранного участка на просвет и на отражение, микродифракционные исследования участков объектов с локальностью 1 - 2 мк.  [49]

Электронный микроскоп позволяет исследовать объекты на просвет в широком диапазоне увеличений, получать светлопольные и темнопольные изображения, проводить дифракционные исследования избранного участка объекта на просвет и микродифракционные исследования участков объектов с локальностью 2 - 3 мк.  [50]

Электронный микроскоп, первая конструкция которого создана в СССР акад. Сталинской премии, в отличие от металлографического микроскопа работает по схеме проходящих электронных лучей. Схема электронного микроскопа, приведенная на фиг. Источник света заменен источником электронов, так называемой электронной пушкой.  [51]

Электронный микроскоп позволяет определять эти размеры значительно точнее. Было установлено, что наряду с мозаичной субструктурой в реальных кристаллах или зернах поликристаллических материалов внутри субзерен имеется еще более тонкая пластинчатая структура, очевидно определяемая условиями роста кристалла в процессе кристаллизации.  [52]

Электронный микроскоп, обладающий значительно большей разрешающей способностью, чем оптический, с успехом используют для исследования структуры как непосредственно на поверхности желобов, так и вглубь по сечению.  [53]

Электронные микроскопы бывают просвечивающие, отражательные, эмиссионные, зеркальные, растровые, теневые, автоэлектронные, эмиссионные. Они отличаются друг от друга источниками свободных электронов, характером взаимодействия электронного пучка с веществом, методами регистрации дифрагированных электронов.  [54]

Электронный микроскоп и микроанализатор ЭММА кроме задач, которые решаются с помощью электронного микроскопа, позволяет произвести рентгеновский анализ исследуемого вещества по всем элементам, начиная от магния и кончая ураном. В электронном микроскопе и микроанализаторе могут использоваться приставки ПРОН-2 и держатель объекта ДО-2. Электронный микроскоп и микроанализатор ЭММА имеют без приставок предельное разрешение 7 А; вместе с устройством рентгеновского микроанялизатора предельное разрешение 5 им.  [55]

Электронный микроскоп позволяет получать изображения с большим увеличением. В электронном микроскопе используется двойственность природы электрона - корпускулярная и волновая. Величина волны, соответствующая летящему электрону, в зависимости от приложенного напряжения может быть доведена до 0 05 нм.  [56]

Электронные микроскопы очень тяжелы и обладают исключительно высокой чувствительностью. Необходимо предусмотреть массивный фундамент, чаще всего подвесной системы.  [57]



Страницы:      1    2    3    4