Электронный микроскоп - просвечивающий тип
Cтраница 2
 |
Основные характеристики современных электронных микроскопов. [16] |
Как видно из рис. VI.16 и в, оптическая схема электронного микроскопа просвечивающего типа в основных чертах напоминает оптическую схему обычного светового микроскопа ( рис. VI. Электронные лучи создаются и формируются специальной электронно-оптической системой, которая называется электронной пушкой. Нагретая до высокой температуры вольфрамовая нить 1 ( рис. VI.16 ив) эмитирует электроны, которые, попадая в ускоряющее поле электронной пушки, образуют пучок. В центре анода имеется небольшое отверстие, через которое пролетают электроны, используемые в дальнейшем для образования изображения. Благодаря этому электронное изображение превращается в световое и становится видимым. Электронное изображение может быть зафиксировано на фотопластинке. [17]
Как уже отмечалось выше, контраст изображения, получаемого в электронном микроскопе просвечивающего типа, определяется различием в рассеивающей способности отдельных элементов объекта, которые отличаются либо по толщине - при разного рода искусственных и естественных отпечатках, либо по эффективному сечению рассеяния - при исследовании объектов, находящихся на пленке-подложке или включенных в пленку-отпечаток. Очень часто недостаточный контраст ограничивает возможность использования разрешающей способности, которой практически обладает микроскоп или даже которую дает сам отпечаток, если речь идет о косвенном методе исследования. Несмотря на то, что в объекте могут находиться детали, размер которых несколько превышает разрешаемое микроскопом расстояние, эти детали, вследствие низкого контраста изображения не будут различимы, что субъективно воспринимается нами как уменьшение разрешающей способности микроскопа. [18]
Особенно велика роль выбора методики и правильного ее применения при исследовании с помощью электронного микроскопа просвечивающего типа, получившего преимущественное распространение в практике исследований поверхностей массивных твердых тел, непрозрачных для электронных лучей. В этом случае возникает необходимость в изготовлении отпечатка изучаемой поверхности, являющегося точной копией этой поверхности, позволяющей получить правильное представление о структуре последней, и вместе с тем достаточно прозрачным для электронов. Техника препарирования образцов зависит как от типа электронного микроскопа, так и, главным образом, от свойств исследуемого объекта. [19]
На основании рассмотренной схемы можно сформулировать основное требование к объектам, исследуемым в электронном микроскопе просвечивающего типа: объект, исследуемый в электронном микроскопе на просвет, должен быть приготовлен либо в виде достаточно тонкой пленки, либо же в виде отдельных тонко диспергированных частиц. Это может быть проиллюстрировано следующим примером. [20]
 |
Схема электронного микроскопа. [21] |
Электронный микроскоп - один из наиболее совершенных приборов для изучения коллоидных систем - На рис. 14 приведен общий вид отечественного электронного микроскопа просвечивающего типа. [22]
При изучении бактерий и вирусов объекты исследования обычно бывают настолько малы и прозрачны для электронных пучков, что могут непосредственно служить предметами электронного микроскопа просвечивающего типа. В этом случае приготовление предмета сводится к нанесению капли воды или какой-либо другой достаточно быстро испаряющейся жидкости, содержащей исследуемые тела, на поддерживающую пленку с последующим высушиванием. Поддерживающая пленка должна быть настолько тонка, чтобы рассеяние электронов в ней было невелико по сравнению с рассеянием электронов предметом. Кроме того, пленка должна быть в высокой степени однородна, так как ее неоднородности могут быть приписаны исследуемому объекту. [23]
С целью изучения влияния природы волокнистого наполнителя на структуру полиэфирного армированного пластика в нашей работе был применен метод электронной микроскопии с использованием растрового электронного микроскопа ( РЭМ), который позволяет получать почти трехмерное изображение исследуемой поверхности и исключает трудоемкий метод приготовления реплик с поверхности при использовании электронного микроскопа просвечивающего типа. [24]
В большинстве случаев металлографический образец непрозрачен для электронов. Поэтому с помощью электронного микроскопа просвечивающего типа невозможно изучать его структуру непосредственно и приходится прибегать к косвенному методу исследования. [25]
Исследуемый объект в электронном микроскопе просвечивающего типа освещается пучком электронов, получаемым в электронной пушке. Между катодом и анодом электронной пушки приложено высокое напряжение ( обычно 150 - 100 / се), формирующее эмиттируемые накаленным катодом электроны в пучок и ускоряющее их до больших скоростей. [26]
Непосредственное изучение таких поверхностей возможно лишь в отражательном, эмиссионном или растровом микроскопах, наблюдение объектов в которых может быть отнесено также к прямым методам исследования. Однако наибольшее распространение имеют электронные микроскопы просвечивающего типа, обладающие наибольшим разрешением из всех перечисленных типов, и потому для изучения структур поверхностей непрозрачных тел были разработаны и успешно применяются косвенные методы. [27]
Использование электронных микроскопов при исследовании паяных соединений позволяет повысить разрешающую способность до 1 нм. В настоящее время применяют электронные микроскопы просвечивающего типа ( ЭМ5, УЭМВ-100А, УЭМВ-ЮОК и др.), которые позволяют исследовать микроструктуру на пленках. [28]
 |
Использование индикаторных растений. [29] |
При исследовании вирусов наиболее часто используют электронный микроскоп просвечивающего типа, в котором поток электронов проходит через специально подготовленный образец, а затем регистрируется. [30]
Страницы: 1 2 3