Cтраница 3
Основное отличие электронного микроскопа от оптического - использование потока электронов вместо лучей света, а вместо стеклянных линз - магнитных или электрических. На рис. 14 приведена упрощенная схема электронного микроскопа просвечивающего типа с магнитными линзами. [31]
На рис. 14 приведена упрощенная схема электронного микроскопа просвечивающего типа с магнитными линзами. [32]
На рис. 15 приведена упрощенная схема электронного микроскопа просвечивающего типа с магнитными линзами. [33]
На рис. 13 приведен общий вид отечественного электронного микроскопа просвечивающего типа. [34]
В книге освещаются основные методы электронно-микроскопического исследования различных объектов. Подробно рассматриваются методы прямого исследования с помощью электронного микроскопа просвечивающего типа ( изготовление пленок-подложек, препарирование объектов и пр. Описываются способы повышения контраста, оценки разрешающей способности отпечатков различного типа, а также методические особенности подготовки к электронномикроскопическому исследованию различных образцов: металлографических шлифов, поверхностей изломов, керамик, объектов малых размеров, волокон. [35]
Применяются электронные микроскопы различных типов: растровые ( сканирующие), эмиссионные, отражательные. Все они успешно используются при решении металловедческих задач; наиболее широкое распространение в физическом металловедении получили электронные микроскопы просвечивающего типа с электромагнитными линзами. [36]
С самого начала электронная микроскопия рассматривалась как основное, хотя и не единственное предложение метода восстановления волнового фронта. В ходе своих экспериментов Хейн и Дайсон [1] столкнулись со значительными практическими затруднениями и разработали модифицированную оптическую схему, которую они предложили автору. Их метод можно назвать методом пропускания; в нем для получения голограммы применяется слегка измененная схема электронного микроскопа просвечивающего типа. В то время как в проекционном методе вся электронно-оптическая система расположена между малым освещающим отверстием и предметом, в схеме пропускания она расположена между предметом и фотографической пластинкой. [37]
В последнем световой пучок, проходя сквозь предмет, по-разному ослабляется его различными деталями, по-разному поглощающими, отражающими, преломляющими и рассеивающими свет. Это дает возможность увидеть изображение предмета. Так, например, в случае различного поглощения области изображения, соответствующие сильнее задерживающим свет деталям предмета, будут более темными, чем области, представляющие более прозрачные детали предмета. При работе с электронными пучками тоже можно было бы выбрать такую скорость электронов, чтобы последние, проходя сквозь предмет, частично задерживались его наиболее плотными и толстыми деталями. Однако такой способ работы совершенно / непригоден для электронного микроскопа просвечивающего типа. Для того чтобы электроны были задержаны веществом, они должны потерять всю свою энергию. Поэтому при прохо - ждении через вещество скорость электронов уменьшается постепенно. Следовательно, если выбрать начальную скорость электронов ( или толщину и плотность предмета) так, чтобы они задерживались в некоторых деталях предмета, то электроны, прошедшие через его другие детали, потеряют более или менее значительную часть своей энергии и будут обладать совершенно различными скоростями. Поэтому они непригодны для образования изображения. Кроме того, существует еще и другая причина, которая не позволяет, чтобы электроны тормозились в предмете: при чрезвычайной малости обычно применяемых электрощюопти-ческих предметов их нагревание, связанное с передачей им энергии заторможенных электронов, будет столь велико, что они неминуемо разрушатся. [38]