Cтраница 2
Измерительный микроскоп МИР-12 позволяет измерять расстояния между линиями с точностью до 0 01 мм и дает возможность рассматривать небольшие участки спектра с 15-кратным увеличением. Он используется для точного определения длины волны неизвестной линии при проведении качественного анализа. [16]
Измерительный микроскоп МИР-12 предназначен для точного, определения положения спектральных летний на фотопластинке. Пластинку со спектрограммами помещают эмульсией вверх на предметный столик. Для освещения используют внешний источник, например лампу накаливания. Микроскоп перемещается вдоль спектра с помощью винта. [17]
![]() |
Измерительный микроскоп МИР-12. [18] |
Измерительный микроскоп МИР-12 предназначен для просмотра спектрограмм и измерения расстояний между линиями в спектре на фотопластинке. Он используется для определения длин волн при отождествлении спектральных линий в качественном спектральном анализе. [19]
Бинокулярный измерительный микроскоп типа БМИ имеет расширенный диапазон измерения, более точные отсчетные устройства в виде проекционных систем, бинокуляр для визирования и сменные кассеты. На базе микроскопа типа БМИ освоен выпуск инструментальных микроскопов типа БМИ-Щ с цифровым отсчетом. [20]
Измерительным микроскопом определяются высота капли h и ее диаметр d в плоскости контакта с поверхностью образца. [21]
Многие измерительные микроскопы оборудованы устройствами прецизионного перемещения изделий в предметной плоскости микрообъектива с возможностью отсчета координат. Увеличение и соответственно глубина резкости микроскопов выбираются, исходя из особенностей формы изделий. Многие модели современных измерительных микроскопов снабжаются устройствами измерения вертикального перемещения микрообъектива, т.е. обеспечивается трехмерное измерение объектов. [22]
![]() |
Поле зрения спирального окулярного микрометра. [23] |
Выпускают следующие измерительные микроскопы: малый инструментальный, большой инструментальный и универсальный измерительный. Лимб представляет собой меру, несущую замкнутую угломерную шкалу, обычно с градусными делениями. [24]
![]() |
Схема для измерения механических параметров контактных. [25] |
Применение измерительных микроскопов с необходимым увеличением и строботахометра позволяет осуществлять наблюдение даже за поведением контактов модулятора, смещение которых в пространстве не превышает нескольких десятков микрон. [26]
У измерительных микроскопов расстояние между объективом и перекрестием окулярной пластинки, вообще говоря, неизменяемое для того, чтобы линейное увеличение ( масштаб изображения) прибора, отъюстированное заводом-изготовителем, оставалось постоянным. Для того чтобы оптическое изображение контролируемого предмета можно было видеть совместно со штрихами окулярной пластинки, необходимо изменять расстояние между контролируемым предметом и прибором до тех пор, пока на окулярной пластинке не будет наблюдаться его резкое изображение. При фокусировке всех оптических увеличительных ( визирных) приборов прежде всего следует установить на резкую видимость перекрестие окуляра с помощью диоптрийного кольца, а затем всю оптическую систему установить на резкую видимость предмета в поле зрения окулярной пластинки. [27]
Помимо измерительных микроскопов для измерения спектрограмм используются компараторы, например ИЗА-2, которые позволяют вести измерение с большей точностью. [28]
Для инструментальных и других измерительных микроскопов применяются более сложные конструкции окулярных головок. [29]