Измерительный микроскоп

Cтраница 3

С помощью измерительного микроскопа необходимо определить диаметры образцов в основаниях надрезов, а также вблизи них. [31]

Отсчеты по барабану измерительного микроскопа можно обычно делать с точностью до нескольких тысячных долей миллиметра. Однако, главная ошибка в измерении положения линии определяется неточностью в подводке креста нитей на центр линий, в особенности, если линии диффузны или дают чрезмерно размытое изображение. Поэтому в качестве опорных линий железа следует выбирать возможно более резкие и не слишком интенсивные линии и делать несколько наводок креста на каждую линию и брать из них среднее. [32]

Будем с помощью измерительного микроскопа определять расстояние, на которое броуновская частица удаляется от начала координат за время t, многократно повторяя этот опыт. Всякий раз мы будем получать разные значения этого расстояния, однако в большинстве опытов будут получаться близкие друг к другу значения, и лишь изредка будут получаться величины, заметно отличающиеся от остальных. Можно ввести среднее расстояние, на которое уходит частица от начала координат за время t, понимая под ним среднее по большому числу опытов. В однократном опыте имеется большая вероятность получить значение расстояния, близкое к среднему. Подчеркнем, что речь идет именно о расстоянии до частицы от начала координат, а направления перемещений в отдельных опытах могут быть совершенно различными - все направления равновероятны. [33]

Внимательно изучить устройство измерительного микроскопа по заводскому описанию и выписать его основные технические характеристики. [34]

Будем с помощью измерительного микроскопа определять расстояние, на которое броуновская частица удаляется от начала координат за время /, многократно повторяя этот опыт. Всякий раз мы будем получать разные значения этого расстояния, однако в большинстве опытов будут получаться близкие друг к другу значения и лишь изредка заметно отличающиеся от остальных. Можно ввести среднее расстояние, на которое уходит частица от начала координат. Направления перемещений в отдельных опытах могут быть совершенно различными, поскольку все направления равновероятны. [35]

При работе с измерительным микроскопом нужно подводить микроскоп к линиям всегда с одной стороны, чтобы исключить ошибку мертвого хода винта. При работе с компаратором этого делать не нужно. Пройдя спектр в одном направлении, сбивают установку микроскопа и проводят измерения повторно в обратном направлении. При необходимости уменьшить случайную погрешность результата такую операцию повторяют 3 - 5 и более раз. [36]

При работе с измерительным микроскопом нужно подводить микроскоп к линиям всегда с одной стороны, чтобы исключить ошибку мертвого хода винта. При работе с компаратором этого делать не нужно. Пройдя спектр в одном направлении, сбивают установку микроскопа и проводят измерения повторно в обратном направлении. При необходимости уменьшить случайную-погрешность результата такую операцию повторяют 3 - 5 и более раз. [37]

Определение твердости при вдавливании шарика. [38]

Диаметр отпечатка изменяют специальным измерительным микроскопом или измерительной лупой или более грубо с помощью особых прозрачных шкал. [39]

Измерение углов на измерительных микроскопах можно вести с помощью угломерной окулярной головки или поворотных столов. [40]

Алмазный наконечник 5 и измерительный микроскоп 6 смонтированы на поворотной головке 7 так, что оптическую ось микроскопа можно при ее повороте совместить с центром отпечатка. Правый винт является регулировочным и служит для установки отпечатка в поле зрения окуляра микроскопа. [41]

Движение капель наблюдается через измерительный микроскоп. В фокальной плоскости его окуляра расположен ряд горизонтальных нитей, расстояние между которыми может быть определено с помощью объектного микрометра. Наблюдая за перемещением капли между нитями, нетрудно определить путь, пройденный каплей. Время ta свободного падения капли от одной выбранной нити до другой и время t ее обратного подъема, происходящего под действием сил электрического поля, измеряется секундомером. [42]

Кроме оптической части, измерительные микроскопы имеют основание, на котором размещается вертикальная колонка, предметный столик или каретки, микрометрические устройства, шкалы, осветительное устройство. Вдоль вертикальной колонки с помощью механизма фокусировки может перемещаться вся оптическая система. Вместе с предметным столиком может перемещаться измеряемое изделие относительно объектива микроскопа. [43]

Перед щелью спектрографа ставится измерительный микроскоп 4 ( рис. 49), в который можно увидеть щель и ее автоколлимационное изображение. При этом щель и ее изображение будут видны в микроскоп одинаково резко. Если этого нет, то, отпустив винты, крепящие тубус щели, следует перемещать щель вдоль оптической оси до тех пор, пока она и ее изображение не окажутся резкими одновременно. Таким образом, вторая операция предварительной юстировки даст возможность приближенно выставить угол 2 17 и точно поставить щель в фокусе объектива коллиматора. [44]

Измерительный микроскоп МИР-12 ( а и спектр в его поле зрения ( б. [45]

Страницы: 1 2 3 4