Специальный микроскоп

Cтраница 1

Метод светового профилирования. 1 - направление наблюдения. 2 - пучок света. [1]

Специальный микроскоп, используемый для этой цели, позволяет различать на поверхности металла систему из светлых и темных полос. [2]

Группа специальных микроскопов объединяет приборы сравнительно узкого назначения. Каждый из них предназначен для проведения определенных исследований, например, толстослойных фотоэмульсий, хлопка и др. Однако, не исключается возможность их применения и для каких-либо других целей, но решать это в каждом индивидуальном случае следует лишь познакомившись с устройством микроскопа. [3]

С помощью специального микроскопа измеряют диагональ полученного отпечатка и по величине диагонали находят число твердости в справочной таблице. [4]

Так как эти специальные микроскопы очень дороги, Баннистером был сконструирован более простой столик, предназначенный для приспособления любого микроскопа для измерений рассеяния. [5]

Точность контроля повышается при использовании специальных микроскопов сравнения, которые позволяют одновременно рассматривать поверхность изделия и образец шероховатости. [6]

Микроскоп для осмотра шариков и камней. [7]

На рис. 5 - 4 изображен специальный микроскоп, предназначенный для осмотра камней и шариков счетчиков, снабженный круглым поворотным столиком. [8]

Угол кручения ( 3 измеряют на специальных микроскопах с вращающимся угломерным столиком, при этом необходимо сделать большое число замеров и определить среднее значение угла р, так как крутка распределяется вдоль оси нити неравномерно. Это затрудняет использование формулы (14.28) для практических расчетов. Однако из этой формулы и рис. 14.10 видно, что с увеличением угла р возрастает скрученность нити. [9]

Измерение диаметра отпечатка производится после снятия нагрузки специальным микроскопом, который либо входит в комплект, либо встраивается в прибор. [10]

Микроструктура металла. ХЮО. [11]

Для рассмотрения микрошлифов при исследовании микроструктуры металлов применяют специальные микроскопы, в которых луч от источника света, отражаясь от шлифа, проходит через объектив и окуляр1, давая соответствующее увеличение. [12]

Для рассмотрения микрошлифов при исследовании микроструктуры металлов применяются специальные микроскопы, в которых луч от источника света, отражаясь от шлифа, проходит через объектив и окуляр ( системы линз, расположенные около шлифа и глаза наблюдателя), давая соответственное увеличение. [13]

Микроструктура металла. хЮО. [14]

Для рассмотрения микрошлифов при исследовании микроструктуры металлов применяют специальные микроскопы, в, которых луч от источника света, отражаясь от шлифа, проходит через объектив и окуляр ( системы линз, расположенные около шлифа и глаза наблюдателя), давая соответствующее увеличение. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5