Специальный микроскоп
Cтраница 2
 |
Микроструктура металла. Х100. [16] |
Для рассмотрения микрошлифов при исследовании микроструктуры металлов применяют специальные микроскопы, в которых луч от источника света, отражаясь от шлифа, проходит через объектив и окуляр1, давая соответствующее увеличение. [17]
Цитохимику необходимы замораживающий микротом или криостат, обычный или специальные микроскопы - ультрафиолетовый, люминесцентный, поляризационный и интерференционный. Желательно иметь цитофотометр или цитоспектрофрто-метр. В какой-то мере он может быть заменен регистрирующим микрофотометром МФ-4. [18]
 |
Микроскоп МИС-11. [19] |
Для повышения точности сравнения поверхности детали с эталоном применяют специальные микроскопы. [20]
 |
Двойной микроскоп светового сечения МИС-11. [21] |
Точность сравнения может быть значительно повышена в случае применения специальных микроскопов сравнения. Эти микроскопы позволяют одновременно рассматривать проверяемую деталь и образец поверхности, которые в поле зрения микроскопа видны расположенными рядом при одинаковом увеличении и одинаковых условиях освещения. [22]
 |
Лазерная установка LMA 10 ( Karl Zeiss, ГДР a - блок-схема. б - внешний вид. [23] |
Лазерная установка LMA 10 ( рис. 107) состоит из специального микроскопа со встроенной лазерной головкой, промежуточной оптической системы и блока питания. [24]
Цитохимические исследования НК проводятся на микроскопических препаратах с помощью обычных или специальных микроскопов и оптических приборов - цитофотометров. [25]
Устанавливают электроды относительно базовых деталей или базового отверстия при помощи установочно-измерительной системы со специальным микроскопом, имеющим два объектива. Объектив микроскопа располагают между торцовой поверхностью электродов-инструментов и плоскостью обрабатываемой детали. Через окуляр одновременно наблюдают профиль или часть профиля электрода и базового отверстия. Перемещением кареток координатного стола изображение отверстия детали совмещают с изображением электрода. Координатный стол в сочетании с микроскопом дает возможность проверять все размеры в процессе обработки или по окончании ее, не снимая детально станка. [26]
Для контроля радиусов закруглений на колонку вместо кронштейна с двойным микроскопом устанавливается кронштейн со специальным микроскопом, с револьверной головкой, на окулярной пластине которой нанесены дуги различных радиусов. [27]
Для получения качественных характеристик обработанных поверхностей путем визуального сличения исследуемой поверхности с образцом чистоты предназначается специальный микроскоп, названный микроскопом ЛИТМО ( Ленинградский институт точной механики и оптики), схема которого изображена на фиг. [28]
Для получения качественных характеристик обработанных поверхностей путем визуального сличения проверяемой поверхности с образцом чистоты предназначается специальный микроскоп, названный микроскопом ЛИТМО ( Ленинградский институт точной механики и оптики), схема которого изображена на фиг. [29]
Микрофотонасадка МФН-1 предназначена для работы с био - - логическими, поляризационными, люминесцентными и некоторыми специальными микроскопами. Насадка устанавливается, как правило, на прямом тубусе микроскопа. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5