Двойной микроскоп - линник
Cтраница 1
Двойной микроскоп Линника позволяет определять микрогеометрию поверхности по максимальной высоте неровностей. [1]
Двойные микроскопы Линника пригодны для оценки микрогеометрии поверхностей, имеющих высоту неровностей от 1 - 2 до 60 мк. [2]
Из вышеуказанных бесконтактных приборов двойной микроскоп Линника МИС-11 предназначен для измерения чистоты обработанных поверхностей с 3-го по 9 - й класс; интерференционные микроскопы МИИ-1, МИИ-4, МИИ-5 - для поверхностей с 10-го по 14 - й класс. [3]
Технические данные микроинтерферометров и двойных микроскопов Линника и профилографов Левина см. том 11, гл. [4]
К оптическим профилирующим приборам относится двойной микроскоп Линника, в основу принципа действия которого положен способ светового сечения. [5]
 |
Двойной микроскоп МИС-11.| Образование микронеровностей при строгании. [6] |
Среди наиболее распространенных приборов следует отметить двойной микроскоп Линника типа МИС-11 ( рис. 192), предназначенный для контроля поверхностей шероховатостью V3 - V9 - ro классов. [7]
Радиус притупления ( завала) лезвия определяется двойным микроскопом Линника, в окуляр которого вставляется специальный шаблон. [8]
Микронеровности поверхностей ниже V5 класса измеряются на двойном микроскопе Линника. [9]
Более тщательный и точный контроль чистоты поверхности производится на двойном микроскопе Линника, профилометрах и профилографах. [10]
Величина неровностей при обработке на жестких и средних режимах определяется с помощью двойного микроскопа Линника. Для определения шероховатости поверхности, обработанной на мягких режимах, пригодны различные профилометры, а для очень чистых поверхностей - микроинтерферометр. Измерять профилометром шероховатость поверхности, обработанной на жестких и средних режимах, не следует, так как это приводит к выкрашиванию алмазного наконечника прибора. [11]
Измерение микрогеометрии поверхности и проверка качества токарной обработки должны производиться при помощи эталонов чистоты, двойного микроскопа Линника, а также посредством профилографов и профилометров. [12]
Для измерения чистоты поверхности стенок отверстия или профиля внутренней резьбы на некоторых других приборах например, двойном микроскопе Линника ( МИС-11), деталь нужно разрезать, что ограничивает возможность применения этих приборов. [13]
К числу приборов для определения шероховатости без механического ощупывания иглой, основанных на оптических методах измерения, следует отнести двойной микроскоп Линника. Он дает возможность измерять ЯШах в пределах от 1 6 до 40 мк. [14]
Наиболее распространено определение микрогеометрии или профиля поверхности с помощью различных профилометров, которые разделяются на оптические - микроинтерферометры, двойной микроскоп Линника [9, 12] - и на механические или оптико-механические с ощупывающей иглой. [15]
Страницы: 1 2 3