Cтраница 1
![]() |
Интерференционный микроскоп. [1] |
Интерференционный микроскоп основан на том же принципе, что и интерференционный рефрактометр, описанный выше. [2]
Интерференционный микроскоп имеет два осветителя: ртутную лампу, дающую монохроматический зеленый свет, и обычную лампу белого света. [3]
![]() |
Микроинтерферометр. а и б - искривления интерференционных полос. в - оптическая схема. [4] |
Интерференционные микроскопы ( микроинтерферометры) В. П. Линника имеют различные конструктивные разновидности. [5]
Интерференционные микроскопы ( микроинтерферометры) предназначены для визуальной оценки, измерения и фотографирования высоты неровностей до 1 мкм. [6]
![]() |
Погрешности при измерений элементов резьбы на микроскопах и способы. [7] |
Интерференционный микроскоп МИИ-4 предназначен для лабораторных измерений шероховатости поверхностей 10 - 14-го классов. [8]
![]() |
Оптическая схема. [9] |
Интерференционный микроскоп МИИ-4 предназначен для измерения шероховатости поверхности 10-го и 14-го классов. На рис. 113 приведена его оптическая схема. От источника белого света 5 световой пучок, пройдя конденсор 4, попадает на зеркало 3, от которого через диафрагму 6 и объектив 7 направляется на разделяющую призму / /, склеенную из двух призм. [10]
Интерференционный микроскоп МИИ-4 В. П. Линника предназначен для лабораторного контроля тонкообработанных поверхностей. [11]
Интерференционный микроскоп МИИ-1 также выпускается серийно и имеет широкое распространение в промышленности. Прибор основан на принципе интерференции, возникающей при наложении когерентных световых лучей, идущих от одного источника света. [12]
![]() |
Принципиальная схема мик-роинтерферо. метра типа МИИ-4. [13] |
Многолучевые интерференционные микроскопы основаны на том же принципе, но разделение одного пучка на несколько пучков усложняет их конструкцию и повышает разрешающую способность. [14]
![]() |
Погрешности при измерении элементов резьбы на микроскопах и способы. [15] |