Современный микроскоп
Cтраница 2
Аберрации могли бы снизить разрешающую силу и, следовательно, полезное увеличение, но в современных микроскопах они исправлены настолько хорошо, что теоретический предел почти достигается на практике. [16]
Коллоидные частицы, имеющие диаметр меньше половины длины световой волны, с помощью обычных микроскопов не могут быть видимы; следовательно, размеры коллоидных частиц лежат за пределами чувствительности современных микроскопов. [18]
Поскольку техника изготовления оптического стекла, шлифовки линз, производства приборов достигла значительных успехов и непрерывно совершенствуется, закономерно возникает еще один вопрос: почему не растет увеличение, получаемое в современных микроскопах, скажем, в 3, 5, 10 и больше тысяч крат. [19]
Микроструктуру материалов изучают при помощи микроскопов. Современные микроскопы могут давать увеличение в несколько тысяч раз, но в обычной практике товароведных исследований достаточно бывает увеличение в пределах 30 - 300 раз. [20]
 |
Гистограммы и средние размеры частиц металлического рутения в Ru / MgO ( а и Ru-Cs / MgO ( б катализаторах низкотемпературного синтеза аммиака, определенные из данных ПЭМ. [21] |
ПЭМ микроскопы с ускоряющим напряжением 200 кВ, так как они обеспечивают наиболее удачную комбинацию свойств по отношению к разрешению, разрушению катализаторов под воздействием пучка, стоимости самого микроскопа и его инсталляции. Современные микроскопы с ускоряющим напряжением 200 кВ позволяют достичь разрешения 0 18нм в точке и 0 14 нм по линиям. [22]
Таким образом, в качестве общего правила следует рекомендовать пользоваться стереоскопией как можно чаще. Все современные микроскопы позволяют получать стереоснимки, и для этого не приходится затрачивать много труда. [23]
У современных микроскопов широкое распространение получила револьверная насадка, снабженная гнездами для двух, трех или четырех объективов ( см. рис. 38); она допускает быструю смену объективов. Фиксация производится стопорным приспособлением в виде защелки. [24]
Эффект получается гораздо более четким, если, работая с поляризационным микроскопом, в качестве заслонки использовать оправу николя - анализатора, который для этого частично вводят в тубус микроскопа. В современных микроскопах, где анализатором служит тонкая пластинка - поляроид, иногда лучшие результаты дает введение оправы кварцевой компенсационной пластинки. Эффект наиболее четко виден в сравнительно толстых частицах при объективах 8 - 10Х - При объективе 20Х он значительно ослабевает и почти незаметен при более сильных объективах. В настоящее время этот эффект используется не столько для измерения показателей, сколько для быстрого различения кристаллов разных фаз, совместно присутствующих в порошке, погруженном в подходящую иммерсионную жидкость. [25]
Любой электронный микроскоп может быть использован как элект-ронограф. В современных микроскопах переход от наблюдения микроскопической картины к наблюдению дифракционной картины совершается изменением режима работы проекционной системы прибора. Получение дифракционной картины, соответствующей участку микроскопической картины объекта ( электронная микродифракция), является одним из самых важных средств структурного анализа материалов. [26]
Но идеальной поверхности не существует, в действительности в ней имеются разного рода нарушения - вакансии, выступы, углубления. В современных микроскопах хорошо видны некоторые из таких нарушений. [27]
Практическим применением теории, которая была создана на основе взглядов де Бройля, явилась электронная оптика. Разрешающая способность лучших современных микроскопов ограничивается длиной световой волны, которая лежит в пределах 0 8ч - 0 3 мкм. Электроны же, ускоренные разностью по-потенциалов всего в 100 в, имеют длину волны де Бройля около 1 А. Это позволяет создавать электронные микроскопы, которые имеют разрешение, превосходящее разрешение лучшего светового микроскопа в несколько сот раз. Принципиально разрешение электронного микроскопа могло бы превосходить разрешение светового микроскопа в сотни тысяч раз, так как длина волны де Бройля для электронов при разностях потенциалов в десятки тысяч вольт примерно в сотни тысяч раз короче длины световых волн. Однако в электронном микроскопе разрешение определяется не только явлениями дифракции, но и различными аберрациями электронных линз, которые формируют пучки электронов. Поэтому, например, просвечивающий электронный микроскоп 1-го класса имеет разрешение 5 - М О А, 2-го класса-12 - И5А и 3-го класса - ЗОч-ЮОА; эти микроскопы имеют ускоряющее напряжение соответственно 100, 60 - 80 и 40 - - 50 тыс. в. В принципе каждый электронный микроскоп может служить электронографом - прибором для получения и регистрации дифракционных картин, возникающих при рассеянии ускоренных электронов веществом. С помощью электронографии можно исследовать структуру веществ, определять положение легких атомов в присутствии тяжелых, изучать весьма мелкодисперсные объекты, исследовать строение молекул, находящихся в газообразном ( парообразном) состоянии, исследовать строение кристаллов и поверхностных слоев различных веществ. [28]
Если посмотреть в сильный современный микроскоп на разбавленный водой латекс гевеи, то можно увидеть множество круглых и продолговатых частиц, находящихся в постоянном тепловом ( б р о у-невском) движении. На рис. 3 приведена микрофотография латекса гевеи. [29]
Предельная разрешающая способ-н о с т ь достигаете при возможно более всестороннем освещении объекта. Вследствие этого в современных микроскопах для освещения объекта применяются специальные конденсоры, дающие широкие пучки лучей. [30]
Страницы: 1 2 3