Современный микроскоп

Cтраница 3

Предельная разрешающая способность достигается при возможно более всестороннем освещении объекта. Вследствие этого в современных микроскопах для освещения объекта применяются специальные конденсоры, дающие широкие пучки лучей. [31]

Набор объективов и окуляров обеспечивает в современных микроскопах полезное увеличение до 2000 раз. [32]

Схема ультрамикроскопа. [33]

Коллоидные частицы с радиусом меньше 200 нм не видны при использовании современных микроскопов из-за ограничений, связанных с разрешающей силой. При использовании ультрамикроскопа коллоидную систему наблюдают не в проходящем свете ( как это делается в обычном микроскопе), а в боковом, отраженном. Таким образом, рассматривают не сами частицы, а дифрагированные пучки света. [34]

Возникновение астигматизма связано с наг рушением магнитной или геометрической симметрии линзы. Уменьшение астигматизма достигается точной механической обработкой ее-магнитных деталей ( прежде всего полюсного наконечника), а также внешней корректировкой с помощью специального стигматора, ко-торый обеспечивает восстановление симметрии магнитного поля линзы. В современных микроскопах стигматорами снабжены объективная и вторая конденсорная линзы. [35]

Формула (32.7) показывает, что разрешаемое расстояние очень медленно уменьшается при увеличении напряжения. ССф формула (7.32) дает Smin 3 А, в то время как в действительности получается 20 - 50 A ii только при особо благоприятных условиях удавалось добиваться 10 А. Как видно, в определении разрешающей способности современных микроскопов решающую роль играют именно они. [36]

Современные электронные микроскопы обладают высокой разрешающей способностью, однако успех исследования с помощью электронного микроскопа определяется не только качеством прибора, но и качеством приготовленного препарата. Необходимо считаться и с ограниченной проницаемостью объекта для электронов. Срез толщиной в несколько микрон, полученный с помощью обычного микротома, является уже непрозрачным при скоростях электронов, обычно используемых в современных микроскопах. Для наблюдения объекта в электронном микроскопе толщина среза не должна превышать 600 - 1000 А. [37]

Вряд ли есть необходимость доказывать пользу комплексных исследований. Из приведенного обзора ясно, что сочетание электронно-микроскопического метода с другими делается правилом для все более широкого круга работ. Особенно важны здесь структурные методы, в частности микродифракция. Современные микроскопы позволяют проводить такие исследования, однако не следует забывать, что расшифровка элект-ронограмм, в особенности микродифракционных, нередко представляет собой сложную задачу. Поэтому работающим с электронным микроскопом следует быть достаточно подготовленными, чтобы самим хотя бы элементарно ориентироваться в дифракционных картинах, а при проведении обстоятельного исследования необходимо вступать в контакт со специалистами по структурным методам. [38]

Преломление и отражение лучей света на вертикальной границе раздела сред ( га. я.| К объяснению движения полоски Бекке при перемещении тубуса микроскопа. [39]

Перемещаясь параллельно самой себе, она сдвигается на одну из сред. Если направление движения тубуса сменить на противоположное, светлая каемка пойдет обратно, снова сольется с границей и затем перейдет на вторую среду. При этом оказывается справедливым следующее правило: при поднятии тубуса полоска Бекке переходит на среду, имеющую более высокий показатель преломления, а при опускании тубуса - на среду, имеющую более низкий показатель преломления. У современных микроскопов с неподвижным тубусом его поднятие заменяется опусканием столика, а опускание тубуса - поднятием столика. [40]

Поэтому для изучения формы и размеров элементов надмолекулярной структуры полимеров используется электронный микроскоп, действие которого основано на принципе поглощения или рассеяния электронов ( прямая электронная микроскопия или электронография), длина волны которых в несколько сот тысяч раз меньше длины волны видимого света. Разрешающая способность современных электронных микроскопов достигает нескольких ангстрем. Практически ( с учетом недостаточно высокого различия ов электронных плотностях полимеров) разрешение составляет 10 - 30 А. Техника прямого рассмотрения объектов, контрастирования их и получения с них реплик, а также детали устройства современных микроскопов подробно описаны в литературе, а конкретные примеры электронно-микроскопических фотографий приводятся в гл. Поэтому здесь следует обратить внимание только на те ограничения, которые необходимо принимать во внимание при интерпретации и оценке результатов электронно-микроскопических исследований. [41]

Полоской Бекке называется тонкая каемка, несколько более светлая, чем окружающий фон, которая отделяется от границы двух сред при слабом нарушении фокусировки микроскопа. Перемещаясь параллельно самой себе, она сдвигается на одну из сред. Если направление движения тубуса сменить на противоположное, светлая каемка пойдет обратно, снова сольется с границей и затем перейдет на вторую среду. При этом оказывается справедливым следующее правило: при поднятии тубуса полоска Бекке переходит на среду, имеющую более высокий показатель преломления, а при опускании тубуса - на среду, имеющую более низкий показатель преломления, У современных микроскопов с неподвижным тубусом его поднятие заменяется опусканием столика, а опускание тубуса - поднятием столика. [42]

Страницы: 1 2 3