Инфракрасный микроскоп

Cтраница 1

Инфракрасные микроскопы представляют собой приборы, которые используют принципы построения аппаратуры оптического контроля и дают большое увеличение изображения, поэтому отметим лишь их отличительные черты. Основными особенностями инфракрасных микроскопов по сравнению с микроскопами оптического диапазона являются: более тщательный подбор материала оптики, работающей как в видимом, так и в инфракрасном диапазоне, применение источника освещения, излучающего в видимом и инфракрасном диапазоне, использование светофильтров для инфракрасного диапазона, наличие электронно-оптического преобразователя и блока питания для него. [1]

Инфракрасные микроскопы для спектрометров Перкин - Эльмер модели 12, 112 и 13 выпускаются серийно этой же фирмой. Устройство их описано в работе [19] и показано на рис. 2, причем необходимо отметить, что в этих приборах излучение прежде диспергируется спектрометром, а уже затем проходит через микроскоп и образец. Это очень удобно при работе с образцами, имеющими низкую температуру плавления или легко портящимися от нагревания, так как недиспергированный пучок излучения, концентрируясь конденсором, дает более высокую температуру. Оси конденсора и микроскопа вертикальны, что также для некоторых целей представляется удобным. [2]

Инфракрасный микроскоп - это такое приспособление к спектрометру, которое позволяет получить спектры чрезвычайно малых образцов. Это особенно важно в биологии, где часто для анализа можно использовать только микрограммы вещества. ИК-микроскоп также является мощным инструментом при исследовании небольших количеств образца, полученного на колонке для газовой хроматографии. [3]

Инфракрасные микроскопы появились в связи с необходимостью изучать объекты, непрозрачные в видимой области спектра, но пропускающие инфракрасные лучи. Такими объектами являются, например, полупроводниковые монокристаллы и некоторые биологические препараты. [4]

Инфракрасные микроскопы предназначаются для изучения препарата путем визуального наблюдения или фотографирования его увеличенного изображения в инфракрасных лучах. Эти приборы отличаются от обычного микроскопа наличием устройств, позволяющих преобразовывать невидимое инфракрасное изображение в видимое. В современных ЭОПах из-за аберраций фокусирующей системы происходит некоторое размытие изображения, а также имеется довольно значительная дисторсия. Если еще учесть, что люминофор на экране ЭОПа имеет зернистость, то становится понятно, что трансформация инфракрасного изображения в видимое приводит к уменьшению разрешающей способности. Для того, чтобы сохранить разрешающую способность, которую имеет микроскоп, масштаб изображения на экране ЭОПа должен быть большим. [5]

Инфракрасные микроскопы имеют большое применение при неразрушающем контроле микроминиатюрных изделий, при работе в прошедшем или в отраженном излучении. Их использование особенно эффективно при контроле изделий микроэлектронной техники, поскольку основные материалы, из которых эти изделия изготавливаются ( германий и кремний), полупрозрачны в инфракрасной части спектра. Недостатком инфракрасных микроскопов, построенных на базе электронно-оптических преобразователей, является сложность в использовании их для автоматизированного контроля без участия оператора. [6]

Принципиальная схема инфракрасного микроскопа МИК-1. /, 6, 13 и 15 - зеркала. 27 - полевая диафрагма для проходящего света. [7]

Инфракрасный микроскоп МИК-1 ( рис. 43) предназначен для визуального исследования и фотографирования объектов в видимой и инфракрасной областях с длиной волны до 1 3 мкм. Работа может производиться в проходящем и отраженном свете. [8]

Рассмотрим устройство распространенного инфракрасного микроскопа МИК-4 ( рис. 1.27), предназначенного для исследования полупроводников, минералов, ИК стекол и палеонтологических объектов в инфракрасных лучах в диапазоне длин волн от 0 75 до 1 2 мкм. Основным преимуществом этого микроскопа перед более ранними моделями является возможность измерения в инфракрасном поляризованном свете. [9]

В разделе 2В показано, что в инфракрасном микроскопе непоглощенное излучение соответствующей длины волны может попасть на детектор вследствие дифракции света на образце и несовершенств оптической системы. Рассеянный свет с меньшей длиной волны также уменьшает интенсивность полосы. [10]

Картина муара, полученная при электронномикроскопическом просвечивании перекрывающихся слоев ( П1 палладия и золота и демонстрирующая наличие дислокаций в одном из слоев. XI 800000. [12]

В кремнии, прозрачном з инфракрасной области спектра декорированные дислокации наблюдаются в инфракрасном микроскопе. На рис. 53 видны дислокационные петли, генерируемые ис точником Франка - Рида в кристалле кремния с примесью меди стартовое положение дислокации здесь не видно, так как оно ш попало в фокус при фотографировании. Четко выявляется гексагональная сетка дислокаций в кристалле хлористого калия, в кото ром декорирующей примесью было серебро. [13]

Дальнейшее развитие механизмов тонкой и грубой подачи идет по линии применения одной направляющей для обоих движений и применения одной рукоятки для осуществления этих движений. Кинематическая схема механизма с одной направляющей инфракрасного микроскопа МИК-4 показана на рис. 5, а, а на рис. 5, б показана кинематическая схема механизма поляризационного микроскопа фирмы Лейтц ( ФРГ) с одной направляющей и одной рукояткой для обоих движений. [15]

Страницы: 1 2