Просвечивающий микроскоп
Cтраница 1
Просвечивающий микроскоп имеет неподвижный электронный зонд. Изображение формируется при взаимодействии первичного и дифрагированного пучков в плоскости изображения. Электронно-оптическая система микроскопа состоит из электронной пушки и конденсора, формирующих зонд, а также объективной, промежуточной и проекционной линз. Объект располагается в фокальной плоскости объектива, его действительное промежуточное изображение создается короткофокусным объективом и переносится на экран проекционными линзами. Рассеянные электроны удаляются апертурной диафрагмой, расположенной вблизи заднего фокуса объектива, с помощью которой создается контрастное изображение. [1]
Просвечивающие микроскопы, в которых исследуемый объект просвечивается пучком электронов, создающим затем на экране или фотопластинке соответствующее изображение. [2]
Разрешение просвечивающего микроскопа определяется в основном сферической и хроматической аберрациями линз, осевым астигматизмом и дифракцией. [3]
Применение просвечивающего микроскопа в биологии, медицине и некоторых других областях не встречает значительных трудностей, поскольку объекты прозрачны для электронов. Однако использование просвечивающего микроскопа в металловедении требует приготовления специальных объектов-тонких металлических пленок [ 10 - 200 нм ( 100 - 2000 А) ] или реплик ( слепков) с поверхности металлического шлифа, так как только они прозрачны для электронов. [4]
В просвечивающих микроскопах рассматриваемый предмет помещается обычно на тонкую коллодиевую пленку. Только часть электронов не изменяет своего первоначального направления или мало его изменяет. Эти электроны и создают на экране изображение. Так как поток электронов рассеивается тем больше, чем толще слой вещества, то электроны, прошедшие через более толстый слой материала, дают на экране менее яркий след, чем электроны, прошедшие через пленку. [5]
Наиболее распространен просвечивающий микроскоп, так как в отражательных электронных микроскопах при отражении электронных лучей от поверхности непрозрачного объекта, например металла, возникает значительная хроматическая аберрация и другие явления, приводящие к резкому снижению разрешающей способности микроскопа и, следовательно, к потере этого основного преимущества электронного микроскопа. [6]
 |
Схематическое изображение уст. [7] |
Принцип действия просвечивающего микроскопа основан на создании изображения электронным пучком, проходящим через объект. Для полимерных материалов наилучший контраст обеспечивается эффективной толщиной 60 - 100 нм. [8]
Имеется несколько типов просвечивающих микроскопов. [9]
В формировании изображения в электронном просвечивающем микроскопе принимают участие только те электроны, которые при прохождении через объект рассеиваются на сравнительно малые углы; электроны, которые рассеиваются на большие углы, задерживаются апертурной диафрагмой и не принимают участия в формировании изображения. Поэтому важным условием для наблюдения в ТЭМ является толщина объекта, которая не может превышать 100 нм, а обычно составляет от 20 до 30 нм. [10]
При изучении тонких пленок в просвечивающем микроскопе было обнаружено распределение и в ряде случаев движение дислокаций. Дислокации внутри кристалла выявляются в виде пятен или небольших полос благодаря связанному с ними полю деформаций. Были засняты кинофильмы, показывающие последовательное разви-гие дислокаций из одного и того же источника. Источниками дислокаций, по-видимому, являлись термические напряжения, появлявшиеся в кристаллах в результате их нагревания электронным пучком. Были показаны скопления рядов дислокаций у границ зерен металла, упругое взаимодействие дислокаций и другие эффекты, связанные с возникновением и движением дислокаций, причем далеко не все эти эффекты получили пока убедительное толкование. [11]
Это находится на пределе возможного разрешения самых лучших просвечивающих микроскопов. [12]
При напряжении 1000 кВ и увеличении 30000х в просвечивающем микроскопе при исследовании очень тонкого препарата ( пропускающего электроны) клинкера наблюдали очень тонкие особенности структуры кристаллов: блоки ( субзерна) в кристаллах али-та; двойники в кристаллах белита; напряжения и различные дефекты в кристаллах. [13]
Если глубина фокуса - 1 мкм, то все точки объектов просвечивающего микроскопа, обычно имеющих толщину - 0 1 мкм, фокусируются. Более того, получается четкое изображение таких рельефных объектов, как реплики с поверхности излома. Большой глубиной фокуса объясняется известная конструктивная особенность фотокамеры электронного микроскопа: флюоресцирующий экран, на котором проводится фокусировка изображения, расположен примерно на 1 см выше плоскости фотопластинки, регистрирующей изображение. [14]
А) является в настоящее время, по-видимому, главным преимуществом растрового просвечивающего микроскопа. [15]
Страницы: 1 2 3