Просвечивающий микроскоп

Cтраница 2

Химическая мнкронеодно-родностк, возникшая в стали ШХ15 вокруг карбидных частиц при их образовавший и росте ( светлые поля вокруг темных. X 160. [16]

Это предположение было проверено экспериментально двумя методами: методом абсорбционной рентгенографии на рентгеновском просвечивающем микроскопе и методом микрорентгеноспек-трального анализа на микроанализаторе. [17]

Как следует из этого примера, разрешающая способность эмиссионных электронных микроскопов хуже, чем у просвечивающих микроскопов. [18]

В приборах поддерживают разрежение 10 - 3 - 10 - 5 Па. В просвечивающем микроскопе регистрируют прошедшие через образец электроны, в растровом - генерируемые сканирующим электронным зондом вторичные электроны. [19]

В приборах поддерживают разрежение 10 - 3 - 10 - Па. В просвечивающем микроскопе регистрируют прошедшие через образец электроны, в растровом - генерируемые сканирующим электронным зондом вторичные электроны. [20]

Применение просвечивающего микроскопа в биологии, медицине и некоторых других областях не встречает значительных трудностей, поскольку объекты прозрачны для электронов. Однако использование просвечивающего микроскопа в металловедении требует приготовления специальных объектов-тонких металлических пленок [ 10 - 200 нм ( 100 - 2000 А) ] или реплик ( слепков) с поверхности металлического шлифа, так как только они прозрачны для электронов. [21]

Очень близок по устройству к электронным микроскопам электронограф. Большинство электронных просвечивающих микроскопов может работать в режиме электронографа. При этом электроны с помощью магнитных линз собираются в очень узкий пучок, который наводится на обнаруженную заранее деталь структуры. Получающаяся дифракционная картина подобна той, которая возникает при рентгеновском анализе по методу Лауэ. По электронограмме можно определить кристаллографические параметры очень мелких частиц и тонких пленок, которые не поддаются рентгеноструктур-ному анализу из-за соизмеримости длин волн рентгеновского излучения и геометрических размеров частиц и пленок. [22]

Схема установки для травления полимеров в линейном высокочастотном безэлектродном газовом разряде.| Схематическое изображение устройства колонны микроскопа просвечивающего типа. [23]

Независимо от типа электронные микроскопы состоят из колонны, вакуумной системы и системы электронного питания. Устройство колонны просвечивающего микроскопа схематически показано на рис. 7.7. Источником потока электронов является пушка, состоящая из катода, анода и фокусирующего электрода. Между катодом и анодом создается высокое напряжение, которое разгоняет испускаемые катодом электроны до больших скоростей. По выходе из пушки электроны продолжают двигаться по инерции прямолинейно и равномерно с этими скоростями. Поток электронов с помощью конденсорной линзы формируется и направляется на исследуемый образец. Проходя через образец, часть электронов в результате столкновений рассеивается на определенный угол. Электроны, рассеивающиеся на большой угол, задерживаются апертурной диафрагмой и в формировании изображения не участвуют. [24]

При этом методе в просвечивающем микроскопе исследуется не сам объект, а копия с рельефа его поверхности. Пленка-отпечаток должна быть бесструктурной в возможно более широких пределах увеличений, применяемых при исследовании, но вместе с тем воспроизводить рельеф поверхности с разрешением порядка разрешающей силы электронного микроскопа; она не должна взаимодействовать с веществом исследуемой поверхности и легко, без искажений пленки, отделяться от исследуемой поверхности. [25]

Методом мениска цветовую интенсивность цветного пенетранта и световую интенсивность люминесцентного пенетранта характеризуют минимальной, еще выявляемой толщиной цветового или флюоресцентного слоя. Белое пятно, которое образуется на месте контакта, рассматривается и измеряется под просвечивающим микроскопом при нужном увеличении. Если контуры белого пятна размыты, то проводится измерение светопропускания от точки к точке с помощью спектрального микрофотометра. [26]

До недавнего времени представления о структуре и химическом составе реальной поверхности были весьма ограничены из-за отсутствия надежных экспериментальных методов для их исследования. Ситуация стала меняться 10 - 15 лет назад, когда появились соответствующие аналитические приборы, получившие название электронно-зондовых устройств, - прежде всего элек-тронно-зондовые микрорентгеноспектральные анализаторы, дифрактометры электронов низких энергий, Оже-спектрометры, а также модифицированные электронографы, растровые и просвечивающие микроскопы высокого разрешения. [27]

Преимуществом растровых или сканирующих микроскопов является возможность исследовать непосредственно поверхность излома без использования промежуточных реплик, высокая при-цельность и получение объемных изображений. Перспективным является также изучение с помощью сканирующих микроскопов предварительно травленой поверхности излома и особенно совмещение сканирующего микроскопа с микроанализатором. Сканирующие микроскопы обладают меньшей, чем просвечивающие микроскопы, разрешающей способностью и, как правило, меньшей контрастностью изображения. [28]

Методом мениска цветовую интенсивность цветного пенетранта и световую интенсивность люминесцентного пенетранта характеризуют минимальной, еще выявляемой, толщиной цветового или флюоресцентного слоя. На обезжиренную ровную стеклянную плитку наносится 1 - 2 капли пенетранта, сверху накладывается выпуклая линза малой кривизны, линза легко прижимается. Белое пятно, которое образуется на месте контакта, рассматривается и измеряется под просвечивающим микроскопом при нужном увеличении. Если контуры белого пятна размыты, то проводится измерение светопропускания от точки к точке с помощью спектрального микрофотометра. [29]

Методом мениска цветовую интенсивность цветного пенетранта и световую интенсивность люминесцентного пенетранта характеризуют минимальной, еще выявляемой, толщиной цветового или флуоресцентного слоя. На обезжиренную ровную стеклянную плитку наносится 1 - 2 капли пенетранта, сверху накладывается выпуклая линза малой кривизны, линза легко прижимается. Белое пятно, которое образуется на месте контакта, рассматривается и измеряется под просвечивающим микроскопом при нужном увеличении. Если контуры белого пятна размыты, то проводится измерение светопро-пускания от точки к точке с помощью спектрального микрофотометра. [30]

Страницы: 1 2 3