Световая микроскопия

Cтраница 1

Световая микроскопия относится к визуальным методам, основанным на использовании электромагнитных колебаний с длиной волны, намного меньшей размеров изучаемого объекта. Применительно к полимерам метод позволяет определить размеры и форму надмолекулярных образований не менее 0 4 мкм, поскольку использует длину волны видимого света ( 0 4 - 0 8 мкм), и применяется для изучения морфологии поликристаллов, изучения толщины и поперечного сечения образцов. Этим методом можно изучать распределение концентрации и ориентацию наполнителя ( в том числе, резины как наполнителя для других полимеров), взаимодействие между резиновой матрицей и наполнителем, исследовать поверхность резин. [1]

Световая микроскопия сегодня чаще всего использует поляризованное излучение, поскольку кристаллизация и ориентация обусловливают эффект двойного лучепреломления. В частности, для получения информации об упорядоченном состоянии надмолекулярных образований предлагается [6] использовать экспериментальную зависимость рассеяния поляризованного света от величины угла рассеяния. [2]

Хотя световая микроскопия - один из самых испытанных методов металловедения, порой в этой области приходится действовать на ощупь. [3]

Достоинство световой микроскопии - возможность изучать водосодержащие объекты; новые перспективы открывает использование световой микроскопии в сочетании с компьютерной техникой. [4]

Принципиальная схема хода лучей в световом ( а а электронном ( б микроскопах. [5]

Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. [6]

Методы световой микроскопии позволяют исследовать особенности структуры твердых тел на границе раздела металл - окружающая среда. Применение световых микроскопов ограничено их относительно невысокой разрешающей способностью, определяемой числовой апертурой А и длиной волны света К 0 50 мкм. [7]

Схема хода лучей в световом ( а и электронном ( б микроскопах. [8]

Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. [9]

Границы световой микроскопии определяются величиной ее разрешающей силы, равной 1 / 3 длины волны падающего излучения. В белом свете она лежит примерно при 200 нм. [10]

Применение световой микроскопии для изучения топографии поверхностей электролитических осадков, отличающихся развитым рельефом, ограничено, так как зачастую высота рельефа значительно превосходит глубину резкости оптического микроскопа. [11]

Методы световой микроскопии различаются по способу освещения объекта исследования: в проходящем свете, в отраженном, свете ( для непрозрачных объектов, при боевом освещем. Эти методы пригодны для дисперсионного анализа порошков, суспензий, эмульсий, пен. [12]

Эффективность обычной световой микроскопии ограничивается не только конечной разрешающей способностью, определяемой свойствами оптической системы, но и недостаточной контрастностью между интересующими исследователя объектами и окружающим фоном. В сканирующем микроскопе повышение контрастности может быть осуществлено как электронным увеличением контрастности, так и использованием невидимого для глаза излучения, например, ультрафиолетового. [13]

Для световой микроскопии соскоб наносят на предметные стекла, препараты фиксируют и окрашивают 3 - 4 ч по Романовскому - Гимзе. В положительных случаях обнаруживают коккоподоб-ные включения в клетках эпителия величиной до 10 мкм. [14]

С помощью световой микроскопии в стали Х18Н10Т, состаренной втече-ние 1 ч при 650 С, обнаружены выделения карбидов ( рис. 151), тогда как в стали ОХ18Н10Ш заметных выделений карбидов не наблюдается. [15]

Страницы: 1 2 3 4