Рентгеновская микроскопия

Cтраница 1

Рентгеновская микроскопия стала успешно развиваться и достигла по существу серьезных результатов лишь за последнее десятилетие. Обусловлено это в некоторой мере тем, что показатель преломления рентгеновых лучей всех известных веществ очень близок к единице и поэтому нельзя было изготовить в достаточной мере короткофокусные линзы и, следовательно, создать рентгеновский микроскоп, по принципу действия подобный оптическому. [1]

Существуют различные экспериментальные методы рентгеновской микроскопии и микроанализа; они перечислены ниже в порядке возрастания их сложности. [2]

Отражательная ( или дифракционная) рентгеновская микроскопия, для которой фокусировка рентгеновских лучей достигается с помощью изогнутых зеркал из диэлектрика или металла. [3]

Этот метод необходимо отличать от настоящей рентгеновской микроскопии, в которой изображение формируется дифракцией или отражением рентгеновских лучей. [4]

Контактная схема прибора для обнаружения течи огнеопасной жидкости. [5]

Кроме указанных методов широко применяются рентгеноскопия металлов, рентгеноструктурный анализ, рентгеновская микроскопия ( контактный и дифракционный способы) и рентгеноспск-тральный анализ. Весьма перспективным является метод радиоспектроскопии. [6]

В шестой главе, имеющей обзорный характер, описываются основные методы современной металлографии: световая, электронная, рентгеновская микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ, а также теория травления шлифов, которая, как дравило, в учебниках металлографии отсутствует. [7]

Из-за отсутствия в рентгеновской области спектра устройств формирования изображений, аналогичных оптическому объективу, в рентгеновской микроскопии и дефектоскопии используют в основном теневые методы получения изображения внутренней структуры исследуемого объекта. На рис. 1 приведена схема получения теневого изображения в рентгеновском абсорбционном микроскопе ( РАМ) проекционного типа. Рентгеновские лучи, исходящие из точечного источника, проходит сквозь близко расположенный к нему объект и в соответствии с законами геометрической оптики формируют увеличенное теневое изображение этого объекта в плоскости регистрации. [8]

Геликоидальная дислокация в чистом алюминии после закалки и старения при. [9]

Возможно, они действительно образуются в этих материалах, так как Ланг и Мейрик [51] наблюдали большие геликоиды, имевшие диаметр OKO IO 50 мкм, в толстых образцах чистого алюминия, применяя метод рентгеновской микроскопии. [10]

В общем, в технических монокристаллах карбида кремния линейные дефекты, связанные с характером роста и пластической деформацией, разнообразны и достаточно многочисленны. Методы травления и рентгеновской микроскопии могут быть использованы для отбора наиболее совершенных кристаллов для полупроводниковых приборов. [11]

Уже изобретен голографический микроскоп с колоссальным увеличением. Близка к реализации и рентгеновская микроскопия. Коэффициент усиления голографиче-ского рентгеновского микроскопа ожидается близким к миллиону, что даст возможность заглянуть в глубь живой клетки. [12]

Не так давно Кендрью и его сотрудники [54, 55] успешно синтезировали структуру кристаллов, используя электронную вычислительную машину для осуществления преобразования по Фурье рентгеновской дифракционной картины. Несмотря на все это, рентгеновская микроскопия в ее современной форме имеет ограниченное применение из-за трудностей нахождения фаз в различных точках обратной кристаллической решетки как в методе Кендрью, так и методе Бюргера и Брэгга. [13]

Рентгеновская спектроскопия, как и рентгеновская флуоресцентная спектроскопия - спектрохимические методы идентификации различных элементов, присутствующих в твердых телах [491] - еще далеко не нашли достаточно полного применения. Однако сейчас находит все большее применение метод рентгеновской микроскопии, предложенный впервые Бергом [492] и Барретом [493] более тридцати лет назад. Например, Ньюкирк [494] использовал метод Берга - Баррета для определения положений участков с искаженной кристаллической решеткой, таких, как области, непосредственно окружающие дислокации в твердых телах. Ленг [495] разработал метод рентгеновской просвечивающей микроскопии, и этот метод может быть с успехом применен [496] для определения концентрации и распределения дислокаций и соответствующих им векторов Бюргерса в большинстве твердых тел. Возможность установления степени кристаллографической дисориентации, дефектов роста и напряжений в твердых телах является предпосылкой [497] для понимания роли дефектов кристаллической решетки в гетерогенном катализе ( см. гл. [14]

Однако применение рентгеновских лучей не ограничивается только определением структур. Известны и другие варианты использования явления дифракции - рентгенофазовый анализ и рентгеновская микроскопия. [15]

Страницы: 1 2