Cтраница 2
В рентгеновской и ультрафиолетовой оптике применяются специальные зеркала с многослойными покрытиями из чередующихся тонких слоев элементов с большой и малой плотностью - например, вольфрама и углерода или молибдена и углерода; каждая пара слоев имеет толщину около 1 нм, причем слои должны быть гладкими на атомарном уровне. Другими оптическими устройствами с наноразмерными элементами, предназначенными для использования в рентгеновской микроскопии, являются зонные пластинки Френеля с наименьшей шириной зоны около 100 нм и дифракционные решетки с периодом менее 100 нм. [16]
К проблеме поворота пучка широкополосного излучения на большой угол примыкает и задача повышения плотности потока излучения на мишени, расположенной на некотором расстоянии от источника. Она представляет интерес, например, для той же рентгенолитографии, контактной рентгеновской микроскопии, MP-фотофизики и - фотохимии. Наиболее очевидными концентрирующими элементами являются эллипсоид скользящего падения, в одном из фокусов которого расположен источник излучения, а в другом - мишень. [17]
Современные электронные микроскопы легко достигают разрешающей способности порядка нескольких ангстрем. Даже самые оптимистические оценки не позволяют в настоящее время надеяться, что в рентгеновской микроскопии ( голографической или обычной) удастся превысить это разрешение при использовании любых мыслимых рентгеновских источников. С другой стороны, есть основания считать, что в электронных микроскопах будущего удастся улучшить уже достигнутое высокое разрешение, а также успешно преодолеть проблему нагрева образца. [18]
Если говорить только о главных приложениях многослойных систем ( мультислоев), то следует отметить отражатели сйета, лазерные зеркала, светоделители, оптические фильтры. В будущем эти исследования должны оказать влияние на развитие астрономии, источников синхротронного излучения и рентгеновской микроскопии. Хотя наша книга и посвящена оптическому диапазону частот, анализ многослойных систем без больших изменений можно приложить и к рентгеновскому диапазону. [19]
Соблюдение этих требований не только позволяет получить лазерные голограммы трехмерных предметов, но также решает проблему распространения голографического метода на рентгеновскую микроскопию. [20]
Дальнейшие перспективы применения зеркальных микроскопов скользящего падения связаны с улучшением их реального разрешения, прежде всего - за счет повышения точности изготовления зеркал. Для наблюдения самосветящихся протяженных источников типа импульсной горячей плазмы, имеющей широкий спектр с максимумом в коротковолновой области 1 - 2 кэВ, наиболее подходит изображающий микроскоп с системой Вольтера или апланатической. В то же время в традиционном для рентгеновской микроскопии направлении - исследованиях микроструктуры различных объектов методом просвечивания - более перспективным является использование сканирующего микроскопа, на разрешении которого не сказываются аберрации. [21]