Микрофотограмма

Cтраница 1

Микрофотограмма, соответствующая этому переходу, будет иметь вид плавной кривой, на которой границе перехода будет соответствовать наклонная часть АБ ( фиг. В идеальном случае микрофотограмма должна была бы иметь на границе вертикальный участок, показанный пунктиром. Обычно за меру разрешающей способности принимается расстояние между точками, соответствующими 15 и 85 % максимальной интенсивности. [1]

Микрофотограмма молекулы WOBr4 представлена на рис. 6.10. Далее переводят плотности почернения в абсолютные интенсивности. [2]

Микрофотограммы радиограмм фрезерованной поверхности стали 45 и других марок стали при фрезеровании против подачи убедительно показывают, что износ, точнее - перенос материала инструмента на обработанную поверхность, носит дискретный характер. Наряду с участками с очень высокой степенью почернения находятся участки, где почернение фактически отсутствует и видна лишь вуаль. Микрофотограммы указывают также и на весьма различные размеры частиц перенесенного материала инструмента на обработанную поверхность. [3]

У правой микрофотограммы отсутствует симметрия линий вследствие неправильной установки щели. [4]

Влияние зернистости эмульсии и фотометрпруемой площади на вид микрофотограммы. [5]

На первой микрофотограмме флуктуации так велики, что линия не может быть обнаружена. На второй микрофотограмме площадь щели микрофотометра увеличена и линия уже намечается. [6]

Микрофотометриче - [ IMAGE ] Разложение микрофотометрических кривых екая кривая для линии Da. для линий Da и На. [7]

На такой же микрофотограмме для На наблюдается лишь некоторая асимметрия соответствующего максимума. На рис. 65 приведено разложение экспериментальных микрофотометрических кривых для Da и На на три составляющие. Расстояние между составляющими IIЪ и la ( см. рис. 62), измеренное в результате такого разложения кривых, оказалось равным 0 319 см 1 для На и 0, 321 см 1 для Da. [8]

Интенсивность оценена по микрофотограмме в десятибалльной шкале для компоненты 1 спектра, кроме специально оговоренных случаев. [9]

Интерпретация электронного спектра поглощения кристалла ВТМ м-ксилола при 20 К. [10]

Интенсивность оценена по микрофотограмме в десятибалльной шкале. Указана интенсивность в компоненте I, кроме специально оговоренных случаев. [11]

Кривая радиального распределения. [12]

На рис. 75 приведена микрофотограмма и кривая почернения за вычетом фона, полученные по электронограмме от тонкой пленки алюминия, окислявшейся в кислороде при тлеющем электрическом разряде. [13]

Микрофотограммы линий 111.| Характеристическая кривая примененной рентгенопленки. [14]

На рис. 1 приведены микрофотограммы соответствующих участков пленок, полученные на нерегистрирующем фотометре при увеличении в 21 раз. [15]

Страницы: 1 2 3 4 5