Cтраница 1
Микрофотографии реплик с поверхности различных полимерных материалов, полученных в виде пленок методом экструзии, показывают, как микрогеометрия поверхности полимеров отражает особенности их внутренней структуры. В процессе постепенного охлаждения пленки происходит кристаллизация и ориентация в направлении вытяжки. Пленка целлофана в отличие от пленок полиэтилена и полиамида получается не из расплава, а из раствора. Эти полосы наблюдаются при использовании самых разнообразных фильер, и расстояние между ними сохраняется постоянным. Очевидно при прохождении вискозного раствора через фильеру происходит ориентация ассоциированных молекул ксантогената целлюлозы [ 12, 13, с. Ассоциаты ( фибриллы, пачки) и фиксируются при поступлении пленки в осадительную ванну. [1]
![]() |
Электронная микрофотография гидроокиси магния в диспергированном состоянии. X 45 000.| Электронная микрофотография угольной реплики с гидроокиси магния. X 45 000. [2] |
В отличие от микрофотографий реплик с образцов, прокаленных при 200 и 1000 С передающих в основном пластинчатый характер структуры скола, на микрофотографии образца, прокаленного при 1400 С ( рис. 7), наблюдается чрезвычайно рыхлый скол, и пластины уже не выявляются. [3]
![]() |
Электронная микрофотография гидроокиси магния в диспергированном состоянии. X 45 000.| Электронная микрофотография угольной реплики с гидроокиси магния. X 45 000. [4] |
В отличие от микрофотографий реплик с образцов, прокаленных при 200 и 1000 С, передающих в основном пластинчатый характер структуры скола, на микрофотографии образца, прокаленного при 1400 С ( рис. 7), наблюдается чрезвычайно рыхлый скол, и пластины уже не выявляются. [5]
На фото 80 приведена микрофотография реплики, полученной с поверхности аноднс-окисленного алюминия после удаления окисного слоя в специально подобранном растворителе. При этом на поверхности металла обнаруживается ячеистая структура в виде плотной сотообразной упаковки шестигранников, по которой можно судить о структуре самой пленки. Однако это относится лишь к очень тонкому барьерному слою пленки, прилегающему к поверхности анода. [6]
На рис. 26 показана микрофотография реплики двухком-понентного ударопрочного полистирола. Реплика подтверждает наличие двух фаз в ударопрочном полистироле. [7]
На рис. 32, а приведена микрофотография реплики с поверхности низкотемпературного скола полиэтилена низкой плотности ( П2015К); хорошо видна типичная сферолитная структура полимера. [8]
На рис. 33, а приведена микрофотография реплики со скола облученного ( 100 Мрад, в гелии) полиэтилена без антиокислителей; обнаруженная структура практически не отличается от структуры блока необлученного полиэтилена. [9]
На рис. 33, в показана микрофотография реплики со скола облученного ( 100 Мрад, в гелии) полиэтилена с 6 вес. I; в результате сшивания реплика менее четко выявляет надмолекулярные структуры. Аналогичная картина наблюдается и на репликах со скола полиэтилена с термсстабилизи-рующими системами II и III, взятыми в оптимальных концентрациях. [10]
В случае полной герметизации образца, подготавливаемого к электронномикроскопическому исследованию, обычно не наблюдается шарообразных образований, о чем свидетельствуют, например, микрофотографии реплик в работах [491, 492], Швите с сотрудниками и снимки, полученные на растровом электронном микроскопе, сделанные со сколов самых разнообразнейших образцов вяжущих в ранние и поздние сроки твердения. [11]
![]() |
Микрофотография реплики с поверхности активного. [12] |
Результатом топохимических реакций может быть также губчатая структура пор. На микрофотографии реплики с поверхности восстановленного монокристалла Fe3O4 ( рис. 4.13) видны выходы крупных пор круглого сечения. [13]
Все они представляют собой микрофотографии реплик с поверхности разрушения образца. Масштабный штрих соответствует 2 мкм. [14]
Более строгий подход к решению этого вопроса был разработан японскими исследователями. Так, Фуками [63, 137] указывает на следующие два способа экспериментального определения разрешения реплик: 1) измерение закругления на микрофотографии реплики с объекта, имеющего в действительности острые углы и 2) измерение на снимках реплик минимального расстояния между двумя прямыми параллельными линиями, которые еще различимы в отдельности. [15]