Cтраница 2
Для анализа структуры поверхности применялся метод электронографии в отраженном пучке [93-95], однако до сих пор еще не решен вопрос о том, могут ли кристаллические поверхности, которые с молекулярной точки зрения являются плоскими, давать снимки, соответствующие когерентной диффракции, так как многие авторы предполагают, что наблюдаемое отражение обусловлено электронами, когерентно рассеивающимися соответствующими выступами поверхности. Ретер [97] провел обширные исследования структуры металлических поверхностей; на рис. 15 показана снятая посредством электронного микроскопа микрофотография реплики поверхности полированного электролитическим способом монокристалла меди при увеличении 160 000 Х - Она показывает степень шероховатости электролитически отполированных монокристаллических пластинок меди. Можно считать, что в данном образце более 90 % всех поверхностных атомов расположено на грани куба. [16]
Преимущества метода реплик состоят в том, что его можно применять ко всем высокомолекулярным соединениям, в том числе нерастворимым, и определение молекулярного веса производить также и на технических смесях, так как присутствие других ингредиентов обычно не мешает измерению. Реплики получают с поверхности излома замороженного полимера. Естественно считать, что межмолекулярные силы слабее, чем внутримолекулярные, представляющие собой силы химической связи. Поэтому образования, наблюдаемые на микрофотографиях реплик с поверхности излома полимеров, могут быть интерпретированы как одиночные макромолекулы или их агрегаты. Однако иногда бывает нелегко отличить молекулу от агрегата или от структурных неоднородностей материала, применяемого в качестве промежуточного отпечатка, что является недостатком метода реплик. Проще обстоит дело с исследованием биологических макромолекул, значительную часть которых составляют белки с очень большим молекулярным весом, часто равным нескольким миллионам. Помимо большой величины этих молекул, исследование облегчается также тем, что их можно получить в кристаллическом состоянии и периодичность структуры поверхности кристалла позволяет проводить более точную идентификацию. [17]