Cтраница 4
При радиальном поле деформации вокруг частицы существует линия, вдоль к-рой контраст не наблюдается. Периодические изображения возникают при взаимодействии двух когерентных пучков электронов ( напр. Интенсивность изображения изменяется с периодом, равным расстоянию между плоскостями решетки, вызвавшими образование этого дифрагированного пучка. Так получают прямое изображение кристаллической решетки. Эти изображения ( муаровые узоры) возникают: при наложении двух тонких пленок одного и того же материала, приготовленных раздельно; в слоях, эпитак-сиально выращенных ( см. Эпитак-сия) па тонких моиокристалличеекпх основах; в приготовленных электрополированием образцах, содержащих малоугловые границы: в топких пленках двухфазных структур. При непрямом разрешении периодическую структуру обнаруживают с помощью муарового узора. Используя периодические изображения, анализируют несовершенства решеток: полные и частичные дислокации, дефекты упаковки, их расположение, деформацию решетки, вызванную различными несовершенствами. Если в кристалле есть антифазные границы, в изображении появляется полосчатый контраст, обусловленный фазовым сдвигом. Анализируя микрофотографию и соответствующую микродифракционную картину, определ я-ют векторы смещения для различных участков антифазных границ. Элек-тронномикроскоиический дифракционный контраст изображений рассчитывают на электронных вычислительных машинах, используя динамическую теорию дифракции электронов. В большинстве случаев достаточно хорошее совпадение с экспериментально наблюдающимися структурами дает двухлучевое приближение теории. [46]