Cтраница 2
Прямое наблюдение и сравнение времени отражения и разницы во времени достаточны для определения - некоторых типов многократного отражения. Например, на рис. 1, 2 и 3 иллюстрируются ясно различимые многократные отражения. На сейсмограмме типы отражений повторяются через регулярные интервалы времени многократных отражений и разница во времени Сравнивается с разницей для простых отражений, вычисленных по классическим формулам. [16]
Прямое наблюдение дефектов на поверхности с помощью электронного микроскопа позволяет непосредственно проверить эту гипотезу. [17]
Прямые наблюдения образования пузырей в кольцевом потоке описаны в 115 ], где исследовался кольцевой канал с текущей вверх пленкой на внутренней нагреваемой поверхности. На рис. 10 приведены полученные результаты, качественно подтверждающие ожидаемые тенденции. [19]
Прямое наблюдение окрашенных зон в ионообменной колонне возможно лишь в особых случаях; при этом работа аналитика несколько облегчается. [20]
Прямое наблюдение зерен аустенита проводят с помощью высокотемпературной и электронной микроскопии. [21]
Прямое наблюдение расположения атомов в ядре дислокации возможно в автоионном микроскопе. [22]
Прямые наблюдения границ зерен, выполненные методом высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, дают доказательства их специфической дефектной структуры в наноструктурных материалах вследствие присутствия атомных ступенек и фасеток, а также зернограничных дислокаций. В свою очередь, высокие напряжения и искажения кристаллической решетки ведут к дилатациям решетки, проявляющимся в изменении межатомных расстояний, появлении значительных статических и динамических атомных смещений, которые экспериментально наблюдались в рентгеновских и мессбауэрографических исследованиях. [23]
Прямые наблюдения распределения вещества путем фотографирования неба крупнейшими телескопами свидетельствуют о том, что в масштабе порядка 10 Мпс ( примерно таково среднее расстояние между соседними скоплениями галактик) и меньше неоднородность велика. [24]
Прямые наблюдения магнитного поля в недрах Солнца невозможны. Весьма желательна независимая проверка этого результата. [25]
Прямое наблюдение дислокационной структуры при комнатной температуре в алюминиевой фольге, деформированной непосредственно в электронном микроскопе, показало, что при отдыхе происходит лишь небольшое перераспределение дислокаций, а плотность дислокаций существенно не уменьшается. В технических металлах и сплавах дислокации закреплены примесями, что дополнительно затрудняет их перемещение в интервале температур отдыха. [26]
Прямое наблюдение массивных объектов наиболее целесообразно проводить методом РЭМ, глубина резкости при котором в десятки раз выше, чем в методе ЗЭМ. Высокая глубина резкости позволяет при стравливании одной из фаз до глубины 10 - 20 мкм контролировать микрообъекты до 10 нм. [27]
Прямые наблюдения границ зерен, выполненные методом высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, дают доказательства их специфической дефектной структуры в наноструктурных материалах вследствие присутствия атомных ступенек и фасеток, а также зернограничных дислокаций. В свою очередь, высокие напряжения и искажения кристаллической решетки ведут к дилатациям решетки, проявляющимся в изменении межатомных расстояний, появлении значительных статических и динамических атомных смещений, которые экспериментально наблюдались в рентгеновских и мессбауэрографических исследованиях. [28]
![]() |
Зависимость малоугловых периодов рассеяния d от температуры кристаллизации для образца линейного полиэтилена ( марлекс-50 толщиной 1 мм. [29] |
Прямые наблюдения очень больших периодов, предполагаемых в этом случае, были выполнены Ползком, Робинсоном, Чангом и Флори [15] на фракциях линейного полиэтилена ( М 126 000 и 360000), закристаллизованных при 131 3 С. Полученные этими авторами результаты представлены на рис. 104, где хорошо виден дискретный максимум порядка 1100 А. [30]