Амплитуда - отражение
Cтраница 1
 |
Отражение плоской волны от я кристаллической пластинки. [1] |
Амплитуда отражения g не зависит от расстояния Д до точки наблюдения. Это показывает, что отраженная волна является плоской; и0 Nd, где JV - число элементарных ячеек в единице объема кристалла, d - толщина атомной плоскости - межплоскостное расстояние. [2]
 |
Схема контроля трубы на продольные дефекты. [3] |
При дальнейшем увеличении угла ф амплитуда отражения опять увеличивается. Поперечная волна при этих углах падает на внутреннюю поверхность по касательной ( угол ф 90), или почти по касательной, и продольный дефект на этой поверхности хорошо обнаруживается. [4]
Первое слагаемое в (40.9) дает амплитуды структурных отражений. [5]
В практической работе по определению знаков амплитуд отражений от исследуемого кристалла нет необходимости строго придерживаться какого-либо одного из перечисленных методов. [6]
Соотношение ( 10) между знаками амплитуд отражений h k l, h k l и h h, k k, l l остается справедливым и при уменьшении значений единичных структурных амплитуд до известных пределов. Установление этих пределов и является ближайшей задачей. [7]
Следующим этапом является нахождение знаков для амплитуд отражений остальных цепей. [8]
 |
Полярная характеристика отражения латунной пластинки размерами 15 X 30 мм и толщиной 0 8 мм в воде ( частота 106 гц. [9] |
На полярной характеристике по вертикальной оси отложена амплитуда отражения в децибелах по отношению к некоторому эталонному уровню, по горизонтальной оси - значение угла падения в градусах. [10]
В § 2 было показано, что амплитуды лауэвских отражений ( структурных и сверхструктурных) могут быть получены в результате процедуры усреднения полной амплитуды рассеяния. [11]
При достижении отраженным сигналом значения, равного амплитуде предыдущего отражения, срабатывает компаратор. При этом формируется импульс, время прихода которого регистрируется микроконтроллером для вычисления уровня. [12]
Это позволяет свести вычисление изменения адиабатического инварианта к вычислению амплитуды отражения. [13]
Это позволяет свести вычисление изменения адиабатического инварианта к вычислению амплитуды отражения. [14]
Для отражателей плоской формы ( диск, полоса, бесконечная плоскость) амплитуда отражения зависит от наклона их плоскости к оси преобразователя. [15]
Страницы: 1 2 3 4 5