Амплитуда - отражение
Cтраница 3
Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей - подобрать источник излучения ( длину волны К) так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг ( см. с. Тогда амплитуды отражений F ( hkl) и F ( hkl) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F ( hkl) и F ( hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [31]
Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей - подобрать источник излучения ( длину волны X) так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг ( см. с. Тогда амплитуды отражений F ( hkl) и F ( hkl) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F ( hkl) и F ( hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [32]
Проблема может быть решена, если использовать эффект аномального рассеяния рентгеновских лучей - подобрать источник излучения ( длину К), так, чтобы часть атомов оказалась в области аномального рассеяния и давала при рассеянии лучей дополнительный фазовый сдвиг ( см. гл. Тогда амплитуды отражений F ( fikl) и F ( hkT) перестают быть равными и возникает возможность использовать их различие для выбора истинного варианта структуры и тем самым определения абсолютной конфигурации составляющих ее молекул или комплексных ионов. Так как различие между F ( hkl) и F ( hkl) остается малым, определение абсолютной конфигурации возможно лишь при прецизионной постановке исследования. [33]
 |
Схема пересечения гребней плотности, отвечающей замкнутой системе из четырех сильных отражений Яь Я2, Я3 и Я4 - HI - Я2 - Я3 при учете слабых отражений Я5Я1 Я2, Яе. [34] |
Из сказанного очевидно, что наиболее вероятное значение квартетного инварианта Ф ( 4) зависит от амплитудных значений отражений, так или иначе дополняющих четверку рассматриваемых. Такое привлечение амплитуд дополняющих отражений для правильной оценки наиболее вероятного значения фазового инварианта Ф4 основного квартета было названо принципом окрестностей. [35]
 |
Схема пересечения гребней плотности, отвечающей замкнутой системе из четырех сильных отражений Яь Я2, Я3 и Я4 - HI - Я2 - Яз при учете слабых отражений Я5 Я1 Я2, Яе Я1 Я3 и Я7Я2 Я3. [36] |
Из сказанного очевидно, что наиболее вероятное значение квартетного инварианта Ф ( 4 зависит от амплитудных значений отражений, так или иначе дополняющих четверку рассматриваемых. Такое привлечение амплитуд дополняющих отражений для правильной оценки наиболее вероятного значения фазового инварианта Ф ( 4) основного квартета было названо принципом окрестностей. Отражения Я5, Я6 и Н7 составляют вторую окрестность квартета Я. [37]
Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попар-ной авноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hkl) - замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости R. Значит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [38]
Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попарной равноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hkl) замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости R. Зна чит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [39]
Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попарной равноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hki) замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости Я. Значит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [40]
Рентгеноструктурное исследование, проведенное обычным способом, не может дать ответа на этот вопрос. Из-за центросимметричности рентгеновской оптики - попар-ной равноценности амплитуд отражений F ( hkl) и F ( hM) - замена координат всех атомов на обратные по знаку никак не изменяет фактора расходимости R. Значит, оба зеркально или инверсионно равные варианта структуры одинаково правильны по этому критерию. [41]
 |
Точки отражения выявляются при шероховатой поверхности по неподвижным всплескам фона ( трава. [42] |
Однако согласно рис. 2.27, б, амплитуду углового отражения можно лишь с осторожностью использовать как сравнительный эхо-импульс. Полное отражение в стали наблюдается только между углами падения от 33 до 57, а при 60 отражение очень незначительно. [43]
Если в пластине имеется один небольшой дефект, который еще не слишком искажает эхо-импульс от задней стенки, то отражение от него появляется в том же месте за каждым многократным отражением от задней стенки. Амплитуда эхо-сигнала однако изменяется, но иначе, чем амплитуда отражения от задней стенки. Дело в том, что для маленького дефекта на пути звукового луча в ближнем поле, согласно главе 5, сказывается волнистость. Место наибольшей чувствительности располагается в конце ближнего поля, а в дальнем поле амплитуда эхо-импульса уменьшается обратно пропорционально квадрату расстояния. Так можно объяснить изображение на экране на рис. 16.21, где четко видно различное поведение эхо-импульсов от дефектов и от задней стенки. [45]
Страницы: 1 2 3 4 5