Наклон - образец
Cтраница 4
Приставка предназначена для установки в: а гониометрах ГУР; она дает возможность съемки на просвет и: на отражение и построения полной полюсной фигуры. Для съемки на отражение предусмотрены наклоны образца вокруг горизонтальной оси. Кривая распределения интенсивности, соответствующая данному сечению сферы проекции, получается при медленном вращении образца в собственной плоскости ( 36 град / мин) и синхронном движении ленты самопищущего прибора. Для съемки на отражение в приставке имеется коллиматор, укрепляемый на входном щелевом устройстве гониометра, с помощью которого вырезается пучок прямоугольной формы, вытянутый в экваториальной плоскости и ограничиваемый по высоте набором вкладышей от 0 5 до 2 мм. Для работы с крупнозернистыми образцами предусмотрено возвратно-поступательное движение образца в горизонтальном направлении. В приставке возможно быстрое вращение образца в собственной плоскости, используемое при рентгенографировании крупнозернистых образцов. Переход от медленного вращения к быстрому осуществляется путем закрепления гибкого валика на оси червяка быстрого вращения. [46]
 |
Схема установки для. вакуумного напыления. [47] |
Силу тока, протекающего через испаритель, можно измерять и плавно регулировать. Устройство для крепления напыляемых образцов монтируют так, чтобы образец 2 находился на расстоянии 6 - 8 см от испарителя. Кроме того, весьма существенное значение имеет угол наклона образца по отношению к испарителю. [48]
 |
Схема установки для вакуумного напыления. [49] |
Силу тока, протекающего через испаритель, можно измерять и плавно регулировать. Устройство для крепления напыляемых образцов монтируют так, чтобы образец 2 находился па расстоянии 6 - 8 см от испарителя. Кроме того, весьма существенное значение имеет угол наклона образца по отношению к испарителю. [50]
Эти различия в постоянных не являются единственными. Если при распространении ртути фронт пятна всегда резко очерчен, то для галлиевого пятна с течением времени наблюдается постепенное размывание границы фронта. Оказалось, что в случае галлия - в отличие от подъема ртути по цинку - угол наклона образца к горизонтали не влияет на величину коэффициента А. [52]
Большая глубина фокуса, высокая разрешающая способность и обилие полутонов на изображении, полученном в РЭМ, создают впечатление объемности и часто позволяют правильно представить себе пространственную конфигурацию деталей исследуемого объекта. При сложном рельефе, характерном для изломов, не всегда удается получить трехмерную реконструкцию по одной плоской проекции. В таких случаях для усиления эффекта объемности изображения проводят съемку стереопар исследуемого участка, изменяя его наклон по отношению к зонду на 5 - 10 в зависимости от увеличения. Изменение угла наклона образца обычно производят механическим способом с помощью гониометра, однако эту операцию также можно проводить, наклоняя зонд и не изменяя при этом положения образца. Стереопары рассматривают с помощью простейших стереоскопов, в которых впечатление объемности создается за счет эффекта параллакса. Количественную оценку деталей рельефа на микрофотографиях ( измерение глубины, высоты и углов наклона) осуществляют с помощью стереокомпараторов по методикам, используемым в картографии. [53]
Из-за высоких коэффициентов рассея-нпя электронов их дифракция при больших брэгговских углах дает большее количество отражений, чем рентгеновская. Желательно получать полные де-баевские кольца, поэтому если дифракция проводится в электронном микроскопе, приходится выбирать большую селекторную диафрагму. Практически хорошим способом при исследовании предпочтительной ориентации является наклон образца по отношению к падающему лучу, чтобы убедиться в отсутствии пропущенных колец. Последнее может произойти в случае нормального падения луча при наличии волокнистой текстуры, см. разд. [54]
Температуру объекта измеряют с помощью термопары; небольшая нагревательная печь, встроенная в столик, служит для получения температур, промежуточных между температурой жидкого азота и комнатной. Последние модели приставок для охлаждения позволяют производить и наклон образца. [55]
Страницы: 1 2 3 4