Наложение - спектральная линия
Cтраница 1
Наложение спектральных линий зависит и от дисперсии спектрографа. Так, на спектрограммах, полученных на квар: цевом спектрографе ИСП-28 со средней дисперсией, в области спектра 2300 - 3500 А удается четко различать на фотопластинках линии, расположенные на расстоянии 0 01 - 0 02 мм. [1]
Наложение спектральных линий для рентгеноспектрального анализа наблюдается в меньшей мере, чем для оптического спектрального анализа, так как в рентгеновском спектре меньше линий. Когда в оптической спектроскопии сталкиваются с наложением линий, как правило, удается найти другую линию приблизительно такой же чувствительности, свободную от наложений. В рентгеновской спектроскопии чувствительность быстро падает от Ка до / Ср. В этом случае при наложении труднее подобрать для анализа другую линию, поэтому используют спектр второго порядка или другой кристалл с большей дисперсией. [2]
Наложения спектральных линий, вместе с загрязнениями электродов и воздуха определяемым элементом, являются наиболее частыми источниками ошибок в качественном анализе. Поэтому к учету этих обстоятельств необходимо всегда относиться с особенным вниманием и, когда это возможно, следует устанавливать присутствие элемента не по одной, а по двум - трем его последним линиям. Иногда характер спектра не допускает такого контроля. Например, у бора есть всего две последние линии, из которых одна почти всегда маскируется линией железа. [3]
Наложения спектральных линий являются только одним источником возможных ошибок в качественном анализе. Другой источник ошибок - появление последних линий определяемых элементов в спектре, обусловленное случайными загрязнениями. Только, при анализе твердых, хорошо проводящих веществ ( металлы, сплавы) сами образцы могут служить электродами источника света. Во всех остальных случаях необходимы электроды, между которыми горит искра или дуга. Примеси в электродах чаще всего бывают источниками помех. Даже лучшие из них не свободны от небольших примесей широко распространенных элементов. [4]
 |
Участок спектра. / - железа. 2 - алюминиево-марганцевого сплава. 3-магния. [5] |
Основной причиной ошибок является так называемое наложение спектральных линий, связанное с недостаточной дисперсией рядовых спектральных приборов. Таблицы спектральных линий показывают, например, что длина волны последней линии любого элемента в пределах 0 05 нм совпадает с длиной волны линий многих других элементов. [6]
Основной причиной ошибок является так называемое наложение спектральных линий, связанное с недостаточной дисперсией рядовых спектральных приборов. Таблицы спектральных линий показывают, например, что длина волны последней линии почти любого элемента в пределах 0 5 А совпадает с длиной волны линий многих других элементов. [7]
Поэтому в АЭС достаточно высока вероятность наложения спектральных линий различных элементов друг на друга. В этих случаях для анализа необходимо использовать линии спектра, свободные от наложений. [8]
 |
Вид спектра с системой решетка - призма. [9] |
Для того чтобы избежать при использовании эшелле наложения спектральных линий, применяют комбинацию двух диспергирующих элементов, имеющих взаимно перпендикулярные направления дисперсий. Такие системы называют системами со скрещенными дисперсиями. При этом, как уже говорилось, достигается увеличение линейной дисперсии и разрешающей способности. [10]
 |
Зависимость lg / для полосы СаОН при 622 нм от логарифма концентрации кальция в растворе в воздушно. [11] |
Присутствие посторонних веществ в анализируемых растворах оказывает влияние на результаты анализа вследствие наложения спектральных линий ( полос) элементов, изменения режима работы распылителя, а также изменения процессов, происходящих в пламени. [12]
Как уже указывалось, серьезной помехой при проведении качественного спектрального анализа является возможность наложения спектральных линий различных элементов. В этом случае иногда приходится пользоваться не наиболее интенсивными из числа последних линий, а переходить к другим, менее чувствительным, но ненакладывающимся линиям. В таблицах последних линий обычно указывается несколько линий разной чувствительности. Вполне естественно, что фотографирование спектра следует проводить с минимальной для данного прибора нормальной шириной щели; в этом случае число наложений будет наименьшим. [13]
В ИК и КР спектры дают вклад все элементы структуры исследуемых систем, как правило, многоатомных, что приводит к многочисленным наложениям спектральных линий, в то время как на оптических спектрах ионов-зондов отражается лишь влияние ближайшего окружения этих ионов. В качестве редкоземельного зонда наиболее часто используется европий. [14]
В И К и КР спектры дают вклад все элементы структуры исследуемых систем, как правило, многоатомных, что приводит к многочисленным наложениям спектральных линий, в то время как на оптических спектрах ионов-зондов отражается лишь влияние ближайшего окружения этих ионов. В качестве редкоземельного зонда наиболее часто используется европий. [15]
Страницы: 1 2 3