Cтраница 5
Изменение картины поля над дефектом при переходе к режиму остаточной намагниченности является следствием действия поля детали, которое возникает не только при продольном намагничивании, но и при циркулярном намагничивании деталей сложной формы, кольцевых деталей при несимметричном их расположении на проводнике с током, при намагничивании с помощью электромагнитов. Во всех этих и других случаях при прочих равных условиях чувствительность магни-топорошкового метода контроля зависит от расположения области II относительно трещины, которое определяется отношением нормальной Ян к тангенциальной Ят составляющей поля. [61]
Подобные же соображения были высказаны еще раньше в связи с опытами Фишера и Барнетта, которые исследовали вопрос о возникновении в ферромагнитном стержне продольного намагничивания под действием вращающегося поперечного поля. [62]
В дефектоскопах наиболее широкое распространение получило циркулярное намагничивание пропусканием переменного тока по детали ( или через стержень, помещенный в отверстие детали) и продольное намагничивание постоянным ( выпрямленным) током. В дефектоскопах используют также импульсные конденсаторные источники тока. В специализированных дефектоскопах широко применяют индукционный способ намагничивания. [63]
В дефектоскопах наиболее широкое распространение получило циркулярное намагничивание пропусканием переменного тока по детали ( или через стержень, помещенный в отверстие детали) и продольное намагничивание постоянным ( выпрямленным) током. В дефектоскопах используют также импульсные конденсаторные источники тока. В специализированных дефектоскопах ( реже в универсальных) широко применяют индукционный способ намагничивания. [64]