Cтраница 2
![]() |
К выводу закона Бугера - Ламберта - Бера. [16] |
При наличии значительной оптической неоднородности среды определенная часть электромагнитных волн, излучаемых обратно возбужденными атомами и молекулами, является некогерентной по отношению к первичным волнам и рассеивается во все стороны. В результате такого рассеяния энергия первичного пучка света постепенно уменьшается, так же как и при необратимом переходе энергии возбужденных атомов в другие формы энергии. [17]
Рассеяние на оптических неоднородностях [4] и дефектах поверхностей: первое имеет место в твердотельных и полупроводниковых лазерах, второе - на окнах разрядных трубок газовых лазеров. [18]
Наконец, когда оптические неоднородности в значительной степени сводятся к переменному во времени клину по одному из направлений ( что бывает из-за вибрации элементов резонатора), направление излучения может быть стабилизировано применением схемы рис. 4.146 с двугранной призмой. [19]
При определении смещения оптической неоднородности, например, риски штриховой меры, только по одной оси удобно пользоваться разверткой с помощью колеблющейся щелевой диафрагмы. [20]
![]() |
Типичное изменение мутности пленки в зависимости от расстояния до линии затвердевания. [21] |
Третий основной тип оптических неоднородностей, вызывающих светорассеяние, обусловлен незначительными колебаниями вязкости во время вытяжки расплава при формовании пленки. Однако возникающее вследствие этого светорассеяние составляет лишь незначительную часть общего, поэтому, как и внутреннее светорассеяние, этот фактор из дальнейшего рассмотрения исключается. [22]
Термин шлирен обозначает оптическую неоднородность. Сущность метода становится ясной из описания конкретной установки, схема которой изображена на фиг. Лучи света, испускаемые электрической дугой А, фокусируются в точке В. Расходящийся пучок падает на вогнутое зеркало М и направляется им на линзу L, представляющую собой объектив фотоаппарата, который расположен на таком расстоянии от УИ, чтобы на передней поверхности этой линзы получилось обращенное изображение источника света. Объектив L наполовину закрыт непрозрачной диафрагмой D, имеющей вид полукруга. Часть лучей, отраженных от зеркала, попадает на эту диафрагму и задерживается ею. [23]
Термин шлирен обозначает оптическую неоднородность. Сущность метода становится ясной из описания конкретной установки, схема которой изображена на фиг. Лучи света, испускаемые электрической дугой А, фокусируются в точке В. Расходящийся пучок падает на вогнутое зеркало М и направляется им на линзу L, представляющую собой объектив фотоаппарата, который расположен на таком расстоянии от М, чтобы на передней поверхности этой линзы получилось обращенное изображение источника света. Объектив L наполовину закрыт непрозрачной диафрагмой D, имеющей вид полукруга. Часть лучей, отраженных от зеркала, попадает на эту диафрагму и задерживается ею. [24]
Дает возможность учесть термическую и оптическую неоднородность задаваемых по условию величин, в то время как резольвентный метод с самого начала исходит из постоянства их значений в пределах каждой зоны. [25]
Изотропная среда обладает слабой оптической неоднородностью, поэтому ее диэлектрическая проницаемость может быть представлена выражением е q де, где q - среднее значение е; де - отклонение от среднего значения. [26]
Рассеяние света осуществляется оптическими неоднородностями среды. [27]
Если среда обладает сравнительно большой оптической неоднородностью, увеличение длины резонатора сверх какого-то предела сопровождается довольно быстрым уменьшением мощности вплоть до полного прекращения генерации, хотя до дифракционной расходимости может быть еще далеко. Это происходит, очевидно, тогда, когда значительная часть излучения уже после однократного прохождения среды из-за рассеяния на ее неоднородностях начинает выходить за пределы апертуры резонатора. В результате осевая сила света, поначалу возрастая с длиной резонатора, проходит через максимум, положение и высота которого зависят от степе ни оптической неоднородности среды. [29]
![]() |
Коэффициенты ослабления К, поглощения Ка и рассеяния К сферических частиц железа при различных параметрах, X. [30] |