Общая нерезкость

Cтраница 2

При гив общая нерезкость равна и 1 25 в и и1 43 ив. [16]

При определении общей нерезкости в случае просвечивания толстостенных изделий в это уравнение вместо мв подставляют значение мр. [17]

Зависимость контраста изображения от ширины наименьшего видимого дефекта при различной яркости экрана не-гатоскопа. [18]

При определении общей нерезкости в случае просвечивания толстостенных изделий в это уравнение вместо ив подставляют значение ыр. [19]

При определении общей нерезкости в случае просвечивания толстостенных изделий в это уравнение вместо мв подставляют значение мр. [20]

При ur WB общая нерезкость равна соответственно и 1 25 ид и ц 1 43 ив. [21]

Схемы просвечивания с использованием компенсаторов.| Номограмма экспозиций при рентгенографии стали ( пленка РТ-1, D - 1 5, экран свинцовый, 6 0 05 мм, F 75 см.| Области применения радиографических пленок ори просвечивании стали ( а и миния ( о. [22]

При г в общая нерезкость составляет соответственно и 1 25ив и и 1.43 ив. [23]

Зависимость относительной чувствительности от угла ф при просвечивании плоских стальных изделий ( источник 37Cs, D. [24]

Относительная чувствительность радиографии зависит от контрастности снимка уо, общей нерезкости изображения U, количества рассеянного излучения, достигающего пленки. Поэтому при просвечивании изделий по участкам, когда все перечисленные параметры меняются от центра к краю снимка, чувствительность контроля также будет изменяться. [25]

Зависимость относительной чувствительности от толщины стали для рентгеновского и у-излучений.| Зависимость относительной чувствительности от толщины стали для тормозного излучения бетатронов.| Зависимость абсолютной чувствительности от толщины стали для различных источников излучения.| Изменение относительной чувствительности от угла Ф при просвечивании плоских стальных изделий ( сплошные линии - пленка РТ-5, штриховые - пленка РТ-1 ( источник 137Cs, D 1 5. [26]

Чувствительность радиографии зависит как от энергии излучения Е ( рис. 11 - 13), так и от контрастности снимка YD, общей нерезкости изображения и, воздействия рассеянного излучения, достигающего пленки и определяемого коэффициентом накопления. Поэтому при просвечивании изделий по участкам, когда все перечисленные параметры меняются от центра к краю снимка, чувствительность контроля также изменяется. [27]

Зависимость относительной чувствительности от толщины стали для рентгеновского и у-излучений.| Зависимость относительной чувствительности от толщины стали для тормозного излучения бетатронов.| Зависимость абсолютной чувствительности от толщины стали для различных источников излучения.| Изменение относительной чувствительности от угла ф при просвечивании плоских стальных изделий ( сплошные линии - пленка РТ-5, штриховые - пленка РТ-1. [28]

Чувствительность радиографии зависит как от энергии излучения Е ( рис. 11 - 13), так и от контрастности снимка уд, общей нерезкости изображения и, воздействия рассеянного излучения, достигающего пленки и определяемого коэффициентом накопления. Поэтому при просвечивании изделий по участкам, когда все перечисленные параметры меняются от центра к краю снимка, чувствительность контроля также изменяется. [29]

Схемы просвечивания сварных конструкций. [30]

Страницы: 1 2 3