Нестабильность - источник
Cтраница 1
 |
Разрядная трубка для получения лаймановского континуума. [1] |
Нестабильность источника, что, в частности, затрудняет использование методов фотоэлектрической регистрации спектров. [2]
Допуск на нестабильность источника питания легко может быть задан, так как он определяется применяемым источником питания. [3]
 |
График изменений выходного напряжения усилителя постоянного тока, обусловленных дрейфом нуля.| Параллельно-балансные усилители постоянного тока. [4] |
Особенно сильно нестабильность источников питания проявляется в изменении параметров ламп, в частности в изменении крутизны анодно-сеточной характеристики лампы. Изменение напряжения питания накала ламп сопровождается изменением температуры катода и, как следствие, изменением крутизны анодно-сеточной характеристики. [5]
Значительные ошибки создает нестабильность источников питания, применяемых для заданий возмущений, начальных условий, получения функциональных зависимостей. [6]
Кроме того, нестабильность источника возбуждения люминесценции, шумы регистрирующей установки и другие факторы при обычной фотоэлектрической регистрации спектров снижают точность анализа. В современном фотоэлектрическом методе для повышения точности проводят усреднение интенсивности линии за некоторый промежуток времени методом накопления заряда на конденсаторе. [7]
 |
Хроматическая аберрация. [8] |
Таким образом, низкочастотные нестабильности источника питания не вызывают большой проблемы для электростатических линз. Однако влияние этих нестабильностей на магнитные линзы может быть довольно значительным. По мере изменения токов возбуждения в катушке изменяется и распределение магнитной индукции, но так как уравнение (4.40) квадратное относительно этого распределения, то будет происходить явление очень похожее на хроматическую аберрацию. [9]
Во-первых, влияние нестабильности источника питания можно легко устранить, например, за счет применения общего для всей схемы кремниевого диода Дв типа стабилитрон. [10]
Поскольку оно зависит от нестабильности источника опорного напряжения Uoa, то не может быть стабильнее последнего. Следовательно, если обеспечить постоянство тока через стабилитрон, то нестабильность параметрического стабилизатора будет такой же, как и компенсационного. [11]
Аппаратурная погрешность, определяемая нестабильностью источника опорного напряжения, погрешностью ключей, резистивных матриц и выходных операционных усилителей, называется инструментальной погрешностью. Основными факторами, вызывающими возникновение погрешностей элементов, являются: технологический разброс параметров; влияние изменений окружающей среды ( в основном температуры); изменение параметров во времени ( старение); воздействия внешних и внутренних шумов и помех. [12]
По этой же причине и нестабильность источника питания не оказывает влияния на показания омметров, выполненных на базе логометра. [13]
Причинами возникновения дрейфа могут быть нестабильность источников питания усилителей и в особенности изменение параметров полупроводниковых приборов и других элементов схемы в результате изменения температуры или старения элементов. R R2 будет передано на базу транзистора, вызовет увеличение базового тока и снижение потенциала коллектора. Поскольку в схеме с ОЭ / Си1, это изменение Д к может быть значительно больше, чем АЕ. [14]
 |
Микропроцессорный АЦП с однократным интегрированием.| Мостовой измерительный прибор с однократным интегрированием. [15] |
Страницы: 1 2 3 4 5