Нестабильность - источник - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Поддайся соблазну. А то он может не повториться. Законы Мерфи (еще...)

Нестабильность - источник

Cтраница 2


Основным ограничением по точности являются нестабильности источника образцового напряжения - тем-пературная-около 0 25 - 10 - 6 1 / С, временная-несколько миллионных долей вольта в год.  [16]

Причинами возникновения дрейфа могут быть нестабильность источников питания усилителей и в особенности изменение параметров полупроводниковых приборов и других элементов схемы в результате изменения температуры или старения элементов. Например, в схеме рис. 2.9, а при увеличении ЭДС источника питания Ещ это изменение ДЕ через делитель RiR2 будет передано на базу транзистора, вызовет увеличение базового тока и снижение потенциала коллектора.  [17]

К внешним факторам следует отнести нестабильность источников питания АВМ, влияние различных энергоемких электрических установок, питающихся от той же электрической сети, что и данная АВМ. Моменты включения и выключения этих установок сопровождаются появлением помех. К внешним факторам также относится температура и влажность окружающей среды. Кроме того, с внешними факторами связаны так называемые промышленные помехи. К этим устройствам относятся: электрический транспорт, коллекторные электрические двигатели, высокочастотные печи для плавки, закалки, сушки и целый ряд других установок. С помощью специальных приемов конструирования электронной аппаратуры можно практически полностью защитить АВМ от внешних помех.  [18]

Искажения электронно-оптического изображения наблюдаются при нестабильности источников питания электронных линз. Это явление следует рассматривать также как хроматическую аберрацию, поскольку при изменении потенциалов электродов электростатических линз и тока, создающего магнитную индукцию магнитных линз, меняются оптические параметры линз.  [19]

20 Эквивалентная схема резонатора. [20]

Уменьшение погрешности измерения добротности часто затруднено из-за нестабильности источника сигнала. Это особенно заметно при измерениях, которые требуют большого времени на их проведение, как, например, при использовании метода измерения полного сопротивления. Метод определения декремента затухания свободен от этого недостатка, но измерение коротких интервалов времени иногда затруднительно. Поэтому были предложены способы автоматизированного динамического представления резонансной кривой, позволяющие быстро и с меньшей погрешностью измерять нагруженную добротность.  [21]

Основные причины, вызывающие это явление: нестабильность источников питания, изменение входных и выходных параметров транзисторов с течением времени, изменение тока с течением времени. Наиболее эффективным способом снижения дрейфа является применение балансных схем.  [22]

Кроме того, следует учесть погрешность вследствие нестабильности источника калибровочного напряжения ( нормальный элемент, ненасыщенный) и погрешность от дискретности частотомерной части. Согласно рекламным данным, минимальная погрешность вслед за проведением установки нуля тока, установки нуля напряжения и калибровки ( все операции проводятся дважды при Гизм 20 мсек и Гизм 80 мсек) составляет At 0 05 % Ux 1 ед.  [23]

Случайные ошибки в атомно-абсорбционном анализе связаны ic нестабильностью источников света, атомизатора, приемника света и измерительного устройства.  [24]

Основными причинами погрешностей образцовой меры и сравнения являются нестабильность источников питания и изменения окружающей температуры.  [25]

Влияние температурных колебаний на цифровые схемы проявляется в нестабильности источников питания и смещении характеристик элементов. Это приводит к снижению нагрузочной способности по выходу ( способность одной схемы управлять несколькими схемами нагрузки), а также ухудшает способность различать верхний и нижний уровни сигналов. В аналоговых схемах изменение характеристик источников питания и элементов сказывается на точности подсистемы в целом. Особенно подвержены влиянию этих изменений такие характеристики, как чувствительность, смещение нуля и линейность.  [26]

Основные причины, вызывающие это явление, - нестабильность источников питания, изменение входных и выходных параметров транзисторов с течением времени, изменение тока с течением времени. Наиболее эффективным способом снижения дрейфа является применение балансных схем.  [27]

Одной из основных причин дрейфа нуля УПТ является нестабильность источников питания. Например, экспериментально доказано, что изменение величины напряжения накала на 10 % эквивалентно изменению сигнала на входе около 0 1 в. Поэтому предъявляются жесткие требования к стабильности источников питания. Уменьшение дрейфа за счет колебаний питающих напряжений достигается также построением специальных схем усилителей.  [28]

Изменение напряжения смещения связано в первую очередь с нестабильностью источника питания и параметров элементов делителя. По сравнению с влиянием изменения гармоник и емкости Сд данное обстоятельство является дестабилизирующим фактором второго порядка малости, особенно при смещениях 0 3 - 0 4 в, где динамические характеристики ( рис. 2 - 12) имеют почти горизонтальные участки.  [29]

Нижний предел зависит от точного измерения экспозиций монитором и нестабильности источника. При выборе метода построения характеристической кривой приходится идти на компромисс между точностью результатов и затраченными усилиями. В данном случае точность не может быть выше 3 а, однако, по мнению автора этой главы, этот метод надо использовать даже тогда, когда некоторые линии впоследствии будут проанализированы более точно. Такая процедура позволяет ознакомиться с пластиной и почувствовать результат, который следует ожидать от применения более сложных методов.  [30]



Страницы:      1    2    3    4    5