Cтраница 1
Нестабильность тока в нагрузке зависит в основном от нестабильности коллекторных токов транзисторов. Для симметричности схемы выбирают транзисторы, у которых температурные характеристики изменения коллекторных токов близки. [1]
Нестабильность токов смещения в реверсивных усилителях часто является причиной ухода нуля. Поэтому в цепях смещения применяются только проволочные сопротивления с надежным контактом движка. [2]
Кривые зависимости времени срабатывания реле типа РМЭ-2 от тока в обмотке. [3] |
Нестабильность токов срабатывания и отпускания не превышает 5 мка. [4]
Схема проверки прибора М4 - 1. [5] |
Нестабильность тока питания мостов не должна превышать 0 0005 % в течение 1 мин после одного часа прогрева. [6]
Нестабильность темно вого тока может быть устранена термостати-рованием помещения на уровне обычных температур. [7]
С нестабильностью токов транзистора непосредственно связана нестабильность напряжений ик, ибк. [8]
Погрешность от нестабильности токов выходных ламп фазо-измерительного устройства полностью устраняется калибровкой по двум точкам шкалы. [9]
С точки зрения нестабильности токов коллекторов схема рис. 2.26, может рассматриваться как усилитель с автоматической балансировкой режима за счет глубокой межкаскадной обратной связи по постоянному току. Цепь обратной связи образует замкнутую петлю, в которой находятся все каскады усилителя, включая первый и последний. [10]
Чтобы избежать влияния нестабильности токов утечек изоляции подогревателя, целесообразно шунтировать цепь катод-подогреватель сопротивлением порядка нескольких десятков килоом, если это не ухудшает работы схемы. [11]
ЕО внимание, что нестабильность тока на 1 % приводит к погрешности до 1 8 в зависимости от измеряемого фазового сдвига, то этих мер, конечно, недостаточно. [12]
Диодный переключа. [13] |
Основным фактором, определяющим нестабильность тока в нагрузке R, является зависимость прямого напряжения на диоде Д2 и обратных - и токов диодов от изменения окружаю - - / щей температуры. [14]
Физические условия, в которых появляется нестабильность тока, связанная с разрушением эмиттирующих микровыступов, следующие: 1) пондеромоторные нагрузки на этих микровыступах близки к критическим; 2) интенсивная ионная бомбардировка ускоряет разрушение поверхности катода. [15]