Нестабильность - ток - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 5
Когда ты сделал что-то, чего до тебя не делал никто, люди не в состоянии оценить, насколько трудно это было. Законы Мерфи (еще...)

Нестабильность - ток

Cтраница 5


Момент включения определяется соотношением (11.9) как / 3 / у. Из (11.9) видно, что гат Г / 4 ( или угол ats т 90), при этом ВУ включается вершиной полусинусоиды тока / у. Из-за малого диапазона регулирования, связи регулировочного сопротивления с полным напряжением питания силовой цепи, нестабильности тока включения и трудности согласования с устройствами автоматического управления схема применяется, главным образом, для регулирования напряжения в небольшом диапазоне, на нагрузке малой мощности, при ручном управлении.  [61]

Определение концентрации вещества по высотам максимумов зависит также от того, с какой точностью калибруется хроматогра-фическая установка. Эта точность в свою очередь зависит от точности определения концентрации смеси, применяющейся для калибровки, и от чистоты применяющихся для калибровки веществ. Сюда же следует добавить ошибки, возникающие вследствие неточности показаний катарометра. Последние складываются из нестабильности тока питания, нестабильности нуля и ошибки отсчета на самописце - суммарно 1 % от верхнего предела измерения концентрации.  [62]

Так как ускоряющее напряжение в электронных пушках, формирующих основной луч и лучи триггеров, является общим, то положение рабочего растра из-з а нестабильности анодного питающего напряжения не должно изменяться. Сопротивление нагрузки триггеров можно сделать достаточно стабильным. Поэтому основными источниками погрешности положения рабочего растра являются нестабильности тока электрон ного луча и коэффициента усиления полупроводниковой структуры. Некоторую погрешность вносит нестабильность обратного тока насыщения обратно смещенного р-л-пере-хода, который обычно применяется в качестве усилительного элемента.  [63]

В рассмотренной схеме автоколебательного блокикг-генератора времязадаю-щий конденсатор был включен в базовую цепь транзистора. Поэтому данную схему называют схемой с базовым конденсатором. Недостатком этой схемы является влияние тока / ко транзистора на процесс перезарядки конденсатора С. Конденсатор С в промежутке между импульсами перезаряжается не только током, протекающим через Rf, но и током / ко запертого транзистора. Нестабильность тока / К0 является одной из причин нестабильности частоты повторения импульсов в данной схеме. Большая стабильность разрядного тока может быть достигнута при включении времязадающего конденсатора в эмиттерную цепь транзистора.  [64]

Несмотря на недостаточный уровень математической обработки, общая картина условий нестабильности, возникающей из-за искажения поля объемными зарядами, является в достаточной мере правдоподобной. Было установлено, что при зазоре 106 мк напряженность поля Ес примерно на 30 % превосходит значение Е0 вблизи точки пробоя. Для ряда неполярных жидкостей, таких, как гексан и бензол, аналогичный эффект не наблюдался. Это, вероятно, обусловлено влиянием проводимости, имевшей место вдоль цепочки дискретных, нитевидных частиц диаметром 2 10 - 3 см. Эффекты, связанные с объемными зарядами при наличии таких нитевидных частиц, не так легко было обнаружить. Иными словами, пробой в результате различных процессов должен произойти еще до появления нестабильности тока.  [65]

Нестабильность имеет широко распространенную частотную зависимость типа 1 / /, вызываемую двумя основными причинами - на малых токах это флуктуации работы выхода, слабо зависящие от среднего тока. На больших токах это флуктуации микроструктуры эмигрирующей поверхности, вызванные пондеромоторными нагрузками и ионной бомбардировкой. Для этого процесса характерно быстрое уменьшение нестабильности с ростом тока для АЭК из изученных углеродных материалов количественно определены области преобладания каждого из названных механизмов нестабильности. Показано, что у таких катодов на вольт-амперной характеристике есть участок, когда рост тока связан с почти пропорциональным ему увеличением количества центров эмиссии. Экспериментально доказано, что в процессе формовки происходит увеличение количества близких по эмиссионным параметрам микровыступов и уменьшение уровня нестабильности тока.  [66]



Страницы:      1    2    3    4    5