Cтраница 1
Схема термостатированного источника калибровочного напряжения. [1] |
Временная нестабильность термокомпенсированных КС исследована еще меньше, чем обычных КС, однако первые данные [ 101 свидетельствуют о том, что этот параметр не хуже 2 10 - 4 за 5000 ч работы. Исследование температурной и временной нестабильности термокомпенсированных КС требует серьезной подготовки операторов и специального оборудования. [2]
Временная нестабильность определяется, в основном, старением элементов, находящихся в наиболее чувствительных узлах стабилизатора. Процесс этот носит случайный характер, и, следовательно, для оценки величины ожидаемой нестабильности необходимо располагать сведениями о характере закона распределения случайных отклонений во времени и значении среднеквадратичного отклонения каждого елемента. Как правило, подобные сведения либо отсутствуют, либо являются сугубо ориентировочными. [3]
Общая временная нестабильность для осциллографов с временем установления менее 0 1 не обычно не превышает 0 02 - 0 03 не. [4]
Временная нестабильность непроволочных резисторов достигает 5 - 10 % в год. [5]
Временная нестабильность изображения сигнала на экране осциллографа определяется нестабильностью импульсов быстрого пилообразного напряжения ( включая нестабильность задержки импульсов в схеме синхронизации), неопределенностью момента сравнения и нестабильностью последующей задержки в тракте формирования стробимпульса. [6]
Эквивалентная схема полупроводникового стабилитрона в области пробоя. [7] |
Временная нестабильность опорного напряжения весьма мала. Такая стабиль-юсть позволяет во многих случаях ис-юльзовать полупроводниковый стаби-штрон в качестве нормального элемента. [8]
Временная нестабильность магнитомягких ферритов проявляется в уменьшении магнитной проницаемости при длительном хранении или воздействии положительных температур. [9]
Эквивалентная схема полупроводникового стабилитрона в области пробоя. [10] |
Временная нестабильность опорного напряжения весьма мала. [11]
Временная нестабильность сопротивления резистора характеризуется относительным изменением сопротивления за определенное время ( обычно за год) и определяется свойствами проводящего материала, конструкцией и, в значительной степени, технологией изготовления резистора. [12]
Временная нестабильность напряжений кремниевых стабилитронов и промежутка коллектор - эмиттер насыщенного транзистора относительно мала. Например, для кремниевых стабилитронов она не превышает Ш 1 -за 6 мес. [13]
Временную нестабильность необходимо определять по результатам статистических исследований серийно выпускаемых расходомеров, которые используют в качестве первичных преобразователей образцового расходомера УС. [14]
Временную нестабильность выходного напряжения проверяют за 1 ч работы. [15]