Ультрафиолетовая область
Cтраница 1
Ультрафиолетовая область обычно подразделяется на ближнюю, или кварцевую, УФ-область ( область, где воздух и кварц прозрачны для излучения), которая охватывает интервал 200 - 750 нм ( 2000 - 7500 А), и далекую, или вакуумную, УФ-область. Спектрофотометры Сагу и Beckman измеряют спектры в ближней области. Измерения в области длин волн ниже 200 - 220 нм могут быть проведены достаточно надежно только в специальных условиях. Эти доступные приборы могут работать до 175 нм. Работа в далекой ультрафиолетовой области требует специального оборудования вследствие сильного поглощения излучения воздухом. [1]
Ультрафиолетовую область, соответствующую длинам волн до 200 нм, называют дальней или вакуумной ультрафиолетовой областью. Ее сравнительно редко используют для аналитических целей, потому что компоненты воздуха обладают интенсивным поглощением в этой области и, следовательно, все работы следует вести под вакуумом, используя специальную экспериментальную технику. [2]
 |
Колонка для очистки изооктана. [3] |
Для ультрафиолетовой области в качестве наиболее прозрачных растворителей приняты вода, насыщенные углеводороды, этиловый и метиловый спирты, этиловый эфир. Подготовку силикагеля и его регенерацию производят следующим образом. Силикагель смешивают в круглодонной колбе, снабженной мешалкой, с концентрированной соляной кислотой в соотношении 1: 1 5 и нагревают при перемешивании на электроплитке закрытого типа в течение 3 - 4 час. [4]
В ультрафиолетовой области для этих газов п 2 3 и 2 8 соответственно. [5]
В ультрафиолетовой области предпочтительны фотодиоды с барьером Шотки. Слой металла контакта у них тонкий, полупрозрачный. [6]
В ультрафиолетовой области соединение XVIII дает полосы поглощения при 293 и 228 ммк, очень сходные с полосами, характерными для алифатических С-нитрозоди-меров. [7]
В ультрафиолетовой области дисперсия SiO, значительно больше, чем в видимой, поэтому применение уравнения ( 28) дает значительно большую ошибку в толщине. Дисперсионную ошибку можно уменьшить выбором более узкою волнового диапазона, од нако это может увеличить относительную погрешность при измерении длин волн. [8]
В ультрафиолетовой области широко используются кварце-иые спектрографы средней дисперсии типа ИСП-22 или более новой модели ИСП-28, которые по оптическим характеристикам практически не отличаются друг от друга. На рис. 114 приведена оптическая схема спектрографа рассматриваемого типа. В качестве входного коллиматорного объектива здесь используется сферическое или внеосевое параболическое зеркало Z с диаметром 40 мм и фокусным расстоянием 600 мм. Объектив камеры Об состоит из двух кварцевых линз диаметром 40 мм с общим фокусным расстоянием 830 мм для средней длины волны 2570 А ультрафиолетового спектра. Фп устанавливается под углом около 42 к оптической оси. Изменение наклона ее производится вращением вокруг оси, которая проходит через плоскость фотопластинки в средней ее части. [9]
В ультрафиолетовой области спектральные исследования степени поляризации излучения или поглощения проще всего осуществляются фотографическим образом. Для этой цели перед щелью спектрографа устанавливается призма Волластона или какая-либо иная поляризационная призма, которая достаточно хороню пространственно расщепляет падающий пучок на два линейно поляризованных пучка. Перед удваивающей поляризационной призмой IF устанавливается диафрагма d с отверстием квадратной или прямоугольной формы, которая освещается исследуемым излучением. [10]
В ультрафиолетовой области чаще всего используют кварц кристаллический и плавленый, который прозрачен примерно от 0 2 мкм. [11]
В ультрафиолетовой области при со со ( см. задачу 7.37) е ( со) 0 и пропускание резко возрастает. [12]
В ультрафиолетовой области ( 2000 - 4000 А) применяются С. Корню, составленной из двух 30 призм из право - и левовращающе-го кварца с оптич. В области 1100 - 2500 А применяются призмен-ные С. [14]
В ультрафиолетовой области возможно наблюдение сравнительно ярких спектров с помощью флуоресцирующих экранов, располагаемых вместо фотографической пластинки в кварцевых спектрографах. [15]
Страницы: 1 2 3 4