Облучение - фосфор
Cтраница 2
Радиоактивный изотоп фосфора Р32, который нашел большое применение в качестве радиоактивного индикатора, может быть получен при облучении серы и хлора быстрыми нейтронами, при облучении фосфора дейтронами и медленными нейтронами и серы дейтронами. [16]
При возбуждении ультрафиолетовым светом интенсивность люминесценции кристаллофосфоров часто изменяется со временем возбуждения, поэтому для получения высокой воспроизводимости спектры всех образцов должны измеряться в течение минимального времени с момента начала облучения фосфора ультрафиолетовым светом. [17]
 |
Изменение яркости флуоресценции NaCI - Ag в ультрафиолетовой области в зависимости от продолжительности рентгенизации. [18] |
При поглощении нерентгенизованным фосфором NaCI-Си света, соответствующего активаторной полосе поглощения, в нем возбуждается синефиолетовая флуоресценция, простирающаяся в ультрафиолетовую область спектра. После облучения фосфора NaCI-Си рентгеновыми лучами яркость этой флуоресценции уменьшается, но одновременно возникают новые полосы возбуждения с максимумами при 300т [ г ( А-центры) и 360 / П [ г ( А - центры), вызывающие флуоресценцию оранжево-желтого и красного цвета, яркость которой, наоборот, возрастает с увеличением продолжительности рентгенизации. Таким образом, оба процесса - уменьшение концентрации ионных центров и образование атомарных центров свечения - взаимно связаны. [19]
Кроме того, наличие в анализируемых образцах фосфора относительно больших количеств мышьяка делает невозможным определение следов сурьмы и меди, фотопики у-лучей которых лежат в той же области спектра. Прямое - спектрометрическое определение при облучении фосфора потоком 8 7 - 1012 нейтр / см2 - сек. Радиоактивационное определение большого числа примесей в облученном образце фосфора возможно лишь после радиохимического выделения и очистки определяемых элементов. [20]
Кроме того, наличие в анализируемых образцах фосфора относительно больших количеств мышьяка делает невозможным определение следов сурьмы и меди, фотопики у-лучей которых лежат в той же области спектра. Прямое - спектрометрическое определение при облучении фосфора потоком 8 7 - 1012 нейтр / см2 - сек в течение 24 час. Радиоактивационное определение большого числа примесей в облученном образце фосфора возможно лишь после радиохимического выделения и очистки определяемых элементов. [21]
В случае ZnS-фосфоров фотолизу предшествует гидролиз сульфида и фотосорбция ионов Zn2, которая состоит в образовании прочных связей ( см. гл. V, § 2) при захвате адсорбированными ионами электронов из зоны проводимости, куда они попадают при облучении фосфора. В этой стадии процесс обратим: серая окраска, возникающая под действием ультрафиолетового света у образцов, прокаленных выше температуры образования фосфора, исчезает при их хранении, вследствие термического освобождения захваченных электронов. [22]
Одновременно наблюдается также падение интенсивности в / ( - полосе ( 435 / пр. Однако поглощение в полосе А при таком почти полном уничтожении F-полосы не падает, а возрастает, хотя интенсивность / ( - полосы, с которой Л - полоса сильно перекрывается, при этом падает. Облучение фосфора в F-полосе вызывает также увеличение интенсивности Л - полосы ( 288 / пр. [24]
Для одноактиваторных кристаллофосфоров, дающих излучение, состоящее из ряда полос, иногда отмечается следующая закономерность: с изменением концентрации активатора изменяется относительная интенсивность полос. Так, в случае СаО РЬ, имеющего два максимума с ч 370 ммк и Я2 640 ммк, по мере увеличения концентрации свинца, увеличивается интенсивность длинноволновой полосы ( сРьмакс 1 вес. Подобным образом ведет себя и таллий, дающий два максимума излучения в фосфоре KI - T1 при облучении фосфора коротковолновым ультрафиолетовым светом: максимальное развитие длинноволновая полоса излучения получает при содержании таллия около 1 вес. [26]
Так, в спектре поглощения фосфора КС1 - Ag возникают под действием рентгеновых лучей две группы полос ( рис. 65 и 66), несомненно обусловленных активатором, так как в чистых кристаллах КС1 они совершенно отсутствуют. Первая группа состоит из трех максимумов 222, 235 и 260 т а, причем в отличие от других полос они возникают только под действием жесткого излучения и не образуются, например, при аддитивном окрашивании фосфора. Это обстоятельство, а также сопоставление спектров поглощения ионов серебра в газообразном и гидратированном состояниях со спектрами щелочно-галоидных фосфоров с серебром до и после их рентгенизации ( табл. 22) позволяет заключить, что упомянутая группа полос обусловлена поглощением ионов серебра, уровни которых испытали некоторое смещение в результате облучения фосфора рентгеновыми лучами. [27]
После аддитивного окрашивания щелочно-галоидных фосфоров, активированных оловом, в их спектрах поглощения обнаруживаются такие же изменения ( рис. 98), какие возникают после их фотохимического окрашивания с помощью рентгеновых лучей [ 2801; поглощение в коротковолновой группе полос падает, ее структура исчезает и одновременно увеличивается поглощение в спектральной области, в которой расположена длинноволновая группа максимумов. Такой параллелизм, конечно, не является случайным и свидетельствует о том, что в основе этих явлений в обоих случаях лежат одинаковые причины. По литературным данным известно, что аддитивное окрашивание в парах щелочного металла обусловлено диффузией в кристалл извне электронов, образующихся на границе кристалл-пар металла. В случае чистых кристаллов щелочно-галоидкых соединений проникшие извне электроны, локализуясь у пустых узлов ионов галоида, образуют / - центры. В случае же активированных щелочно-галоидных фосфоров указанные электроны могут быть захвачены также ионами активатора, о чем свидетельствуют наблюдающиеся изменения в спектрах поглощения аддитивно окрашенных фосфоров. Но так как при аддитивном окрашивании и при облучении фосфоров рентгеновыми лучами возникают совершенно одинаковые изменения в их спектрах поглощения, то в обоих случаях они обусловлены одной и той же причиной, а именно захватом добавочных электронов некоторой частью ионов активатора. [28]
После возвращения электронов в полосу проводимости они могут или рекомбинировать ( переход 52 рис. 194), или претерпевать повторные локализации. Среднее число повторных локализаций, претерпеваемых электроном до его рекомбинации, зависит от природы фосфора и от степени возбужденности фосфора. При уменьшении возбуждения и освобождении многих уровней локализации вероятность повторных локализаций увеличивается, что является одной из причин замедления высвечивания фосфоров на далеких стадиях затухания. АТ, тепловой подъем локализованных электронов в полосу проводимости становится практически невозможным. Электроны должны оставаться в замороженном состоянии очень долго-многие часы, недели и больше. Если за это время фосфор не разряжается без излучения, то нагреванием фосфора или освещением инфракрасными лучами можно заставить электроны с глубоких уровней подняться в полосу проводимости. При этом возникает термолюминесценция при нагревании фосфора или оптическая вспышка при облучении фосфора длинноволновыми лучами. Полосы свечения фосфоров, излучаемые при участии очень глубоких уровней локализации, и есть горячие полосы. Они обнаруживаются в излучении только при высоких температурах. Возможны и безизлуча-тельные переходы с глубоких уровней локализации: при длительном хранении фосфоров величины аккумулированных световых сумм постепенно, хотя и медленно, уменьшаются. [29]
Страницы: 1 2