Cтраница 2
Оптическая система с приемником излучения служит для улавливания излучения и фокусировки его на чувствительный элемент приемника. Применение оптической системы позволяет во много раз увеличить облученность чувствительного элемента по сравнению с облученностью поверхности оптической системы. [16]
Пропускание материала должно приниматься во внимание во всех случаях применения светофильтров. Согласно закону Бера лоток излучения Р, пропускаемый слоем толщиной х, дается выражением Р4 Piexp ( - Рх сх), где [ Jx-удельный коэффициент поглощения, а с - концентрация поглощающего вещества в материале. Закон косинусов устанавливает, что облученность поверхности зависит от угла 6 падения луча на нее с нормалью следующим образом: Е Е0 cos б, аде Е - измеряемая облученность поверхности, а Е0 - облученность IB плоскости, перпендикулярной направлению падающего потока. Для различных углов падения облученность поверхности тем меньше, чем ( больше угол с нормалью к поверхности ( ом. [17]
Далее, важна устойчивость образцов к воздействию светового и теплового излучений, так как в процессе измерений образцы подвергаются действию лучистой энергии в течение определенного, причем иногда довольно длительного периода времени. В зависимости от конструкции спектрофотометра или метода проведения измерений лучистый поток, падающий на образец, может быть либо ограничен узким спектральным интервалом, либо содержать все длины волн в спектре излучения встроенного источника света. Последний случай может оказаться неблагоприятным для образца, так как сфокусированный на нем пучок обычно обеспечивает высокую интенсивность облученности поверхности ( как в видимом, так и инфракрасном диапазонах спектра), что вызывает нагрев образца и, возможно, изменение его спектральной характеристики до завершения измерений. Помимо нагрева падающий поток может также вызвать в процессе измерений обесцвечивание образца с последующим изменением спектральной характеристики. [18]
Пропускание материала должно приниматься во внимание во всех случаях применения светофильтров. Согласно закону Бера лоток излучения Р, пропускаемый слоем толщиной х, дается выражением Р4 Piexp ( - Рх сх), где [ Jx-удельный коэффициент поглощения, а с - концентрация поглощающего вещества в материале. Закон косинусов устанавливает, что облученность поверхности зависит от угла 6 падения луча на нее с нормалью следующим образом: Е Е0 cos б, аде Е - измеряемая облученность поверхности, а Е0 - облученность IB плоскости, перпендикулярной направлению падающего потока. Для различных углов падения облученность поверхности тем меньше, чем ( больше угол с нормалью к поверхности ( ом. [19]
Пропускание материала должно приниматься во внимание во всех случаях применения светофильтров. Согласно закону Бера лоток излучения Р, пропускаемый слоем толщиной х, дается выражением Р4 Piexp ( - Рх сх), где [ Jx-удельный коэффициент поглощения, а с - концентрация поглощающего вещества в материале. Закон косинусов устанавливает, что облученность поверхности зависит от угла 6 падения луча на нее с нормалью следующим образом: Е Е0 cos б, аде Е - измеряемая облученность поверхности, а Е0 - облученность IB плоскости, перпендикулярной направлению падающего потока. Для различных углов падения облученность поверхности тем меньше, чем ( больше угол с нормалью к поверхности ( ом. [20]