Анализ - поверхность
Cтраница 2
Проведен анализ поверхностей, отображающих аналитическую модель. Показано соответствие геометрических построений с данными экспериментов по сульфированию. [16]
Методы анализа поверхности классифицируют в соответствии с природой зондирующего воздействия и эмиттируемых частиц. Анализ последних позволяет получать информацию о природе молекул и атомов, находящихся на поверхности, их пространственном и энергетическом распределении и количестве, что используется для установления состава, прочности связей и взаимного расположения атомов на поверхности. Существенным недостатком этих методов является их разрушающее действие на образец, который раскаляется в ходе исследования. [17]
Эти методы анализа поверхности классифицируют в соответствии с видом зондирующего воздействия и типом эмиттируемых частиц. Анализ последних позволяет получать информацию о природе частиц, их пространственном и энергетическом распределении v количестве, что используется для установления состава, прочности связей и взаимного расположения атомов на поверхности. Существенным недостатком этих методов является их разрушающее действие на образец, который распыляется, в процессе исследования. [18]
Разработан метод анализа поверхности Марса. [19]
Программа, выполняющая анализ поверхности тома, запись на диски собственных адресов, описателей дорожек и метки тома, формирование оглавления тома. [20]
Как показывает практика анализа поверхности, полезно представлять Е ( х) [ или Е ( К) ] в аналитической форме. [21]
Возможны два метода анализа поверхности. Один из них состоит в отборе отдельных проб специальным автоматическим устройством и переносе их к месту анализа. Другой сводится к прямому облучению поверхности и измерению индуцированной активности. Первый метод - более точный и надежный, однако второй метод при помещении автоматической системы на специальный транспортер способен обеспечить быстрый анализ большой площади. [22]
Наиболее распространенными методами анализа поверхности являются Оже-электронная спектроскопия ( ОЭС), РФС, массовая спектроскопия вторичных ионов ( МСВИ), рамановская и инфракрасная спектроскопия, а также измерение краевого угла смачивания. [23]
Литература по методологии анализа поверхности отклика весьма обширна, и в настоящем разделе дало лишь беглое рассмотрение некоторых сторон вопроса. [24]
 |
Штатив для.| Подручник для заточки стальных электродов. Электроды зажимаются в цанги ( 71.| Подручник для придания. [25] |
Для подготовки к анализу разрядных поверхностей электродов выгодно применять специальные приспособления. На рис. 73 изображен в качестве примера подручник для придания стальным электродам крышеобразной формы с помощью наждачного камня. На рис. 74 показано приспособление для создания шаровой головки для электродов из легких и цветных сплавов. [26]
 |
Свойства активированных комплексов водород - хлор. [27] |
Ес, найденная из анализа поверхности потенциальной энергии, составляет 11 6 ккал. [28]
Рассмотрим некоторые наиболее распространенные методы анализа поверхности. [29]
Особое место занимают такие методы анализа поверхностей, как комбинированная фотоэлектронная спектроскопия или электронная оже-спектроскопия. Эти методы позволяют установить распределение элементов в слоях твердых тел, а также проводить градиентный анализ по глубине. [30]
Страницы: 1 2 3 4 5