Cтраница 3
Рассмотрим некоторые наиболее распространенные методы анализа поверхности. [31]
Оценка характера разрушения на основании анализа поверхности излома служит качественной характеристикой. [32]
Карта областей ( I-VI развития разрушения окиси магния MgO при однократном приложении нагрузки в зависимости от температуры и скорости деформации ( комментарии смотри в тексте. [33] |
Применительно к решению обратной задачи анализа поверхностей разрушения-изломов, с целью восстановления величин и числа параметров воздействия при анализе уже реализованного процесса роста трещины рассматриваемые диаграммы ( карты) иллюстрируют представление об эквивалентности реализуемых процессов разрушения в широком диапазоне сочетания условий внешнего воздействия на материал. Все возможные варианты разрушения по телу или по границам зерен на предложенных картах функционально связаны с относительной температурой Т / Тт, относительным напряжением а / Е и скоростью приложения нагрузки или скоростью деформации, где Тпл - температура плавления материала. [34]
Эти три спектрографических метода эффективны для анализа поверхностей вследствие значительной информации, получаемой при возбуждении нескольких первых атомных слоев. Недавний обзор [40] показал, что глубина выхода электронов, как правило, в два раза меньше для ЭОС чем для РФЭС ( преимущественно вследствие более низких значений кинетической энергии выбиваемых электронов) и что глубина выхода электронов в методе УФЭС может значительно изменяться. Типичными интервалами глубин являются: для ЭОС - 0 2 - 2 4 нм, для РФЭС - 0 7 - 4 0 нм и для УФЭС - 0 3 - 5 0 нм. Эти вариации в глубинах выхода электронов являются причиной трудностей количественных измерений. Метод ЭОС использовался более часто и более успешно для зтой цели, чем другие два метода. Посредством подбора подходящей линии спектра с соответствующей энергией метод РФЭС может быть использован для количественных измерений. [35]
Микрофотографии ( х40 поперечного среза бороалюминия. [36] |
Параметры структуры бороалюминиевого композита оценивали путем анализа поверхности поперечного ( относительно волокон) среза материала. [37]
В табл. 5.4 приведены полуколичественные данные анализа поверхности подложек и пленок, состав примесей в которых зависел от особенностей подготовки в условиях реального полупроводникового производства. [38]
Во многих исследованиях, связанных с анализом поверхностей, использование того или иного метода определяется уже характером возникшей проблемы и типом информации, которую необходимо получить. Объединение в одном приборе нескольких различных методов, расширяющее возможности исследования, - главная тенденция современных методов анализа. [40]
Во многих исследованиях, связанных с анализом поверхностей, использование того или иного метода определяется уже характером возникшей проблемы и типом информации, которая необходима. Однако очень часто эту информацию нельзя получить только одним методом. [41]
Распределение бора в ЗЮг. [42] |
Метод ЭСХА особенно удобен, если требуется анализ поверхности без разрушения образца и сверх того нужна информация о химическом состоянии. Чувствительность метода в общем невелика ( 1 - 10 - 2 %) при измерении в течение 2 - 3 мин и регистрации с помощью измерителя скорости счета и самописца. Применение многоканального анализатора и ЭВМ позволяет проводить измерения в течение многих часов - соответственно растет нижний предел обнаружения и чувствительность повышается на порядок. [43]
Модель данных TIN позволяет выполнять различные виды анализа поверхности, например, исследование водосборов, оценку видимости произвольных точек поверхности из заданной точки наблюдения, обрисовку таких черт поверхности, как хребты, ложбины и вершины. TIN могут также изображать физический рельеф местности. [44]
Спектры оже-электро. [45] |