Cтраница 1
Обработка интерферограммы первым способом сводится к измерению ширины интерференционного максимума на половине его высоты. [1]
Обработка интерферограмм для случая, когда волновая поверхность деформирована во всем рабочем поле, осуществляется более сложными способами. В этом случае нельзя непосредственно определить функцию W ( х) ни в одной точке поля, и распределение разности хода в каждом сечении находят с точностью до некоторой постоянной. Так, в частности, исследуются волновые аберрации оптических систем. [2]
Обработка интерферограмм показывает, что за косым скачком уплотнения перед плоской преградой с углом 3С 30 плотность воздуха увеличивается при одном режиме работы аэродинамической трубы в 3 41 раза, а при другом - в 10 раз. Достаточно ли этих данных для определения отношений соответствующих значений скоростей и температур после скачка и до него. [3]
Обработка интерферограмм лазерной плазмы с резким градиентом на профиле плотности, Крат, сообщ. [4]
Задача обработки интерферограмм сводится к определению функции W ( x y) или ее производной. Для интерферометров сдвига непосредственно измеряемой величиной является A. [5]
Задача обработки интерферограмм сводится к определению функции W ( х, у) или ее производной. [6]
Методика обработки интерферограмм при измерении по способу многочастотной ( многощелевой) многолучевой интерферометрии, изложенная в работах [15, 79], заключается в следующем. [7]
При обработке интерферограмм может возникнуть необходимость увеличения точности расшифровки. Более точной локализации интерференционных полос можно достичь поляризационным методом [316], когда в процессе проявления штриховая фотопластинка подвергается вторичному засвечиванию белым светом. В результате черные места фотопластинки просветляются и на месте изображения полосы остаются двойные контуры, расположенные на бывших границах черного и белого. [8]
![]() |
Наслаивающая кювета Классона. [9] |
При обработке интерферограмм может возникнуть необходимость увеличить точность обработки. Более точная локализация интерференционных полос может достигаться соляризационным методом [64], когда в процессе проявления фотопластинка ( штриховая) подвергается вторичному засвечиванию белым светом. В результате черные места фотопластинки просветляются и на месте изображения полосы остаются двойные контуры, расположенные на бывших границах черного и белого. [10]
![]() |
Схема лазерного интерферометра для измерения изменений я жидкости с температурой. [11] |
При обработке интерферограмм может возникнуть необходимость увеличения точности расшифровки. [12]
При фотометрической обработке интерферограмм, основанной на зависимости оптической плотности почернений от разности хода, возможно появление ряда ошибок, возникающих в процессе измерения почернений. [13]
![]() |
Зависимость температуры монокристалла Si толщиной 0 44 мм ( 1 и GaAs толщиной. [14] |
Это выражение используется для обработки интерферограмм в ряде работ [6.7, 6.11, 6.23], причем в (6.2) полагают / 3 0 и считают основным вклад теплового расширения пластинки. Как было показано [6.24], пренебрежение вкладом, который вносит зависимость тг ( 0), может приводить к огромным ошибкам, поскольку влияние температурного расширения пластинки для ряда материалов несущественно по сравнению с температурным изменением показателя преломления. [15]