Cтраница 3
При выборе методов измерений образца и вычислений напряжения aj и деформации 8j необходимо учитывать следующие обстоятельства. Площадь F0 поперечных сечений рабочего участка образца в его исходном состоянии при точности изготовления образца согласно ГОСТам может быть неодинаковой. Для образцов, вырезанных из труб и других полуфабрикатов, это различие может достигать 5 % н более вследствие разнотолщинности, так как обработка поверхностей образца для выравнивания толщины обычно не допускается. [31]
В последнее время влиянию внутренних трещин на прочность стекла придают меньшее значение, чем состоянию поверхностного слоя образца перед испытанием. Предположение, что различного рода механические повреждения ( царапины, трещины) или неоднородные включения, имеющиеся в поверхностном слое, являются начальными источниками разрушения, подтверждаются тем, что разрыв обычно начинается с поверхности образца. Эти трещины возникают в результате воздействия окружающей среды в процессе изготовления образца, или атмосферы до и во время испытаний, или при самом процессе нагружения образца. Из-за отсутствия надежных методов обнаружения и классификации трещин вопрос об их происхождении до сих пор окончательно не решен Обработка поверхности образца раствором плавиковой кислотй способствует значительному увеличению его щкшнсрти. [32]
Наконец, когда частота превышает / о, происходит резкое изменение величины фазового угла коэффициента отражения от слабых изменений в толщине слоя. В этой области малейшие изменения толщины слоя по площади преобразователя приводят к значительным изменениям фазового угла отраженной волны, что даст существенный интерференционный эффект. Проведение измерений в этой области частот невозможно ввиду значительных фазовых сдвигов ( до 180), приводящих к интерференционному гашению отраженной волны. Дальнейшее увеличение частоты приводит к уменьшению влияния изменений в толщине слоя на фазовый угол, что ослабляет интерференцию и уменьшает измеренное кажущееся затухание ультразвука. Повышение чистоты обработки поверхностей образца и преобразователя уменьшает разнотол-щинность переходного слоя и расширяет рабочую область частот. [33]
![]() |
Теплопроводность некоторых материалов при комнатной температуре. [34] |
В обеих таблицах представлены интегральная нормальная ( nt) и интегральная полусферическая ( ht) излу-чательная способность. Данные по другим зависимостям, таким, как зависимость от длины волны, или по другим параметрам, например поглощающей или отражательной способности, не приведены. Отбор материалов также нуждается в комментарии. Хотя в литературе, включенной в список, сопровождающий таблицы, приведены данные по многим материалам и для различных поверхностей, было установлено, что состояние поверхности зависит от начальной температуры, способа обработки внешних условий, что оказывает влияние на свойства поверхности и, следовательно, на излучательную способность. Большие изменения излучательной способности наблюдаются при малых изменениях в способе обработки поверхности образца или даже при видимом отсутствии таких изменений. По этой причине данные, приведенные в таблицах, следует рассматривать как значения, дающие лишь приближенное представление о поведении реальных материалов. [35]