Cтраница 1
Образцы чистоты поверхности служат для сравнительной оценки в производственных условиях. Их выпускают в виде наборов, в которых скомплектованы образцы для различных способов обработки ( фиг. [1]
Образцы чистоты поверхности изготовляются различной конфигурации в зависимости от исследуемой поверхности и различных степеней отделки. Микроскоп предназначен для контрольных операций на рабочем месте. [2]
Образцы чистоты поверхности соответствуют форме и степени отделки контролируемой поверхности. Микроскоп предназначен для контрольных операций на рабочем месте. [3]
При работе с образцами чистоты поверхности следует иметь в виду, что невооруженным глазом можно определить чистоту поверхности лишь 7 - 8 класса, а для определения большей чистоты следует пользоваться лупой. [4]
Качественные: 6) образцы чистоты поверхности; 7) сравнительный микроскоп. [5]
Производственные ( технические) образцы чистоты поверхности изготовляются различными технологическими методами из разных материалов и имеют различную шероховатость поверхности. Технические образцы применяются только для градуирования профило-метров. В этом случае изготовленные образцы подвергаются предварительному измерению ( аттестации) чистоты поверхности на оптических ( МИС-11, МИИ-1) или щуповых приборах. [6]
![]() |
Профиль образца чистоты поверхности 6-го класса с регулярным. [7] |
На рис. 90 показана профилограмма образца чистоты поверхности с регулярным профилем, полученным при достаточной устойчивости механизма образования неровностей. [8]
Средствами для определения чистоты поверхности являются образцы чистоты поверхности ( эталоны - образцовые детали) и специальные приборы. [9]
К качественным относятся: 1) образцы чистоты поверхности; 2) сравнительный микроскоп. [10]
Метод сравнения поверхности контролируемой детали с образцами чистоты поверхности, обработанными соответственно определенным классам по стандарту, является наиболее простым и быстрым способом контроля производственных деталей в цеховых условиях. [11]
Комплексная поверка щупового прибора производится по набору образцов чистоты поверхности с регулярным профилем ( по исходным образцам), набору технических ( контрольных) образцов, сделанных из разных материалов, обработанных различными методами и имеющих различную шероховатость поверхности. [12]
Проверка чистоты поверхности гирь производится методом сравнения с образцами чистоты поверхности. [13]
Часть лучей, пройдя призму, попадает через объектив 4 на поверхность образца чистоты поверхности 5 и, отразившись, возвращается к призме. [14]
Часть лучей, пройдя эту призму, попадает через объектив 4 на поверхность образца чистоты поверхности 5 и, отразившись, возвращается к призме. [15]