Массивный образец - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2
Если жена неожиданно дарит вам галстук - значит, новая норковая шубка ей уже разонравилась. Законы Мерфи (еще...)

Массивный образец

Cтраница 2


Средняя прочность массивных образцов стекла ( стержней и пластинок) после их обработки в растворе плавиковой кислоты имеет примерно такие же значения, что и средняя прочность волокон.  [16]

Данные по массивным образцам включены для сравне ша.  [17]

Поскольку в массивных образцах для измерения Ср ( диаметр 18 мм) очень трудно закалить высокотемпературное состояние материала, более детально этот вопрос исследовался на тонких проволочных образцах.  [18]

Исследования на массивных образцах показали, что при электрошлаковой сварке предварительный нагрев изделия не требуется, так как в этом случае достигается повышенный нагрев металла в месте сварки, в результате чего сварной шов остывает медленнее, чем при ручной сварке и создаются условия, при которых удается избежать закалочных структур.  [19]

Оказывается, что массивный образец может быть сложен из пластинок, чешуек или волокон. Следовательно, такой образец может быть хризотилом, лизарднтом, шестислойпым орто-серпен-тином или антигоритом. Грубоволокнистый минерал может быть антигоритом или шестислопным орто-серпентином.  [20]

Решение в случае массивного образца во внешнем поле получается аналогично. Поле почти параллельно поверхности и экспоненциально стремится к нулю внутри образца.  [21]

Решение в случае массивного образца во внешнем поле получается аналогично. Поле почти параллельно поверхности и экспоненциально стремится к пулю внутри образца.  [22]

По сравнению с массивными образцами у пленок резко возрастает отношение поверхности к объему и, следовательно, увеличивается роль поверхностных дефектов, действующих как источники напряжений; при этом их влияние возрастает с уменьшением толщины пленок. Показательны классические опыты Орована по растяжению вырезанной слюды толщиной 10 мкм.  [23]

При работе с массивными образцами, непрозрачными для электронного пучка, используют косвенный путь и прибегают к методу реплик.  [24]

Доменные стенки в массивном образце являются стенками Блоха, разд. В тонких пленках наряду с ними могут существовать стенки Нееля и стенки промежуточного типа. Однако даже и с этими упрощающими предположениями расчеты формы и плотности энергии стенки сложны, из-за трудности оценки составляющей магнитостатист чедкой энергии, разд.  [25]

26 Микрофотографии, сделанные с помощью электронного микроскопа, иллюстрирующие запирание ЛО в пленке ( 81 % Ni и 19 % Fe.| Зависимость скорости доменной стенки от тянущего поля, приложенного вдоль ЛО, для пленки, содержащей 77 % Ni u 23 % Fe, толщиной 500 А. tfx 3 3 Э, Wc 1 5 Э. [26]

Как и в массивных образцах, подвижность доменных стенок в пленке определяется скоростью, с которой энергия может рассеиваться решеткой.  [27]

Как и в обычных массивных образцах, относительное энергетическое положение долин может быть смещено за счет деформаций. В МОП-структурах, создаваемых путем термического выращивания SiO2 на Si, при охлаждении до комнатной и более низких температур за счет разницы в коэффициентах термического расширения Si и SiO2 ( а также металлического затвора) могут возникать внутренние поля напряжений. Однако, как известно, такие напряжения термической природы не превосходят 108 дн / см2 [336, 824, 828, 1965], что слишком мало для объяснения наблюдаемых значений долинного вырождения. Следовательно, подобный механизм макроскопических однородных напряжений не может объяснить снятия долинного вырождения.  [28]

Поскольку микрополикристаллические пленки и соответствующие массивные образцы имеют одинаковый ближний порядок структуры, они не отличаются и по ширине запрещенной зоны. Однако из-за наличия в пленках структурных дефектов и механических напряжений края их энергетических зон могут быть размыты.  [29]

30 Температурные зависимости удельного сопротивления р пленок Cu S различной толщины, полученных методом вакуумного испарения. У - 0 17 мкм, 2 - 0 25 мкм, 3 - 0 36 мкм, 4 - 0 45 мкм.| Зависимости квадрата коэффициента поглощения а пленок Cu S, полученных методом вакуумного испарения, от энергии фотонов hv для пленок различной толщины ( обозначения кривых в подписи. [30]



Страницы:      1    2    3    4