Cтраница 3
Одним из немногочисленных пока примеров практического применения плазматрона в анализе чистых веществ является работа [1073] по определению примесей в трибромиде бора полупроводниковой чистоты. [31]
Чистота воздушной среды в рабочем помещении существенно сказывается на результатах анализа чистых веществ [ 518 ( стр. Основные ошибки вызваны присутствием пылевых ( эффективный диаметр 5 мкм) и аэрозольных частиц. Газообразные загрязнения воздуха с точки зрения определения микроколичеств металлов менее опасны, хотя могут быть случаи, когда в воздухе находятся в заметных количествах летучие соединения определяемых элементов. Аэрозольные металлсодержащие частицы, поступающие в пробу более или менее равномерно, могут привести к систематическому завышению результатов определений соответствующих элементов, если не будут учитываться. Величина подобных загрязнений пропорциональна длительности операций, проводимых над веществом на воздухе без защиты; их влияние особенно отчетливо проявляется при работе с растворами на стадии предварительного обогащения. Частицы пыли, имеющие большую массу, попадают в пробу ( концентрат) эпизодически и являются причиной характерных выбросов результатов определе. [32]
Чистота воздушной среды в рабочем помещении существенно сказывается на результатах анализа чистых веществ [ 518 ( стр. Основные ошибки вызваны присутствием пылевых ( эффективный диаметр 5 мкм) и аэрозольных частиц. Газообразные загрязнения воздуха с точки зрения определения микроколичеств металлов менее опасны, хотя могут быть случаи, когда в воздухе находятся в заметных количествах летучие соединения определяемых элементов. Аэрозольные металлсодержащие частицы, поступающие в пробу более или менее равномерно, могут привести к систематическому завышению результатов определений соответствующих элементов, если не будут учитываться. Величина подобных загрязнений пропорциональна длительности операций, проводимых над веществом на воздухе без защиты; их влияние особенно отчетливо проявляется при работе с растворами на стадии предварительного обогащения. Частицы пыли, имеющие большую массу, попадают в пробу ( концентрат) эпизодически и являются причиной характерных выбросов результатов определений, ухудшающих воспроизводимость анализа. [33]
Однако и в этой области содержаний, представляющих несомненный интерес для анализа чистых веществ, количественные определения ( с меньшей степенью достоверности, чем в области обычных содержаний) также возможны. Подробно этот вопрос рассматривается в гл. [34]
Между тем в связи с расширяющимся использованием экстракции в качестве метода концентрирования следов при анализе чистых веществ сведения о влиянии солей оказываются необходимыми. [35]
Книга рассчитана на работников спектральных лабораторий, научных сотрудников, инженерно-технических работников, занимающихся получением, исследованием и анализом чистых веществ. Она может быть полезной студентам вузов. [36]
В данной статье обсуждаются синтез и свойства ДТКК, а также их соединений с ионами металлов, примененных в анализе чистых веществ, сплавов и других материалов. [37]
В настоящей главе приводится ряд примеров использования электрохимических и некоторых хроматографических методов разделения в качестве этапа предварительного концентрирования в спектральных методах анализа чистых веществ. [38]
Наиболее чувствительна линия 2288 0 А, но из-за сильного самообращения ее используют лишь при определении низких содержаний кадмия, в основном - в анализе чистых веществ; в большинстве случаев определение ведут по линии 3261 0 А. [39]
Из числа традиционных источников света ( дуга, искра, пламя), а также некоторых других источников, применяемых в последнее время при анализе чистых веществ, дуговые источники, особенно дуговой разряд между угольными электродами, являются самыми распространенными. Это объясняется как весьма низкими значениями пределов обнаружения большого числа элементов, так и возможностью применения дуги, в первую очередь угольной, для возбуждения спектров материалов с самыми разнообразными физико-химическими свойствами, в том числе тугоплавких и труднолетучих материалов. Исследованию дугового разряда и, в частности, его аналитических возможностей посвящено огромное количество работ. В настоящее время основные явления и закономерности дугового разряда можно считать достаточно твердо установленными, хотя ряд вопросов вследствие многообразия и сложности процессов, происходящих в этом источнике, до сих пор остается не выясненным. Не касаясь здесь подробной характеристики и многих особенностей дугового разряда, описанных в специальных монографиях [838, 980], рассмотрим главный интересующий нас вопрос - о связи интенсивности излучения аналитической спектральной линии с содержанием определяемого элемента в пробе и с параметрами источника света. [40]
Из числа традиционных источников света ( дуга, искра, пламя), а также некоторых других источников, применяемых в последнее время при анализе чистых веществ, дуговые источники, особенно дуговой разряд между угольными электродами, являются самыми распространенными. Это объясняется как весьма низкими значениями пределов обнаружения большого числа элементов, так и возможностью применения дуги, в первую очередь угольной, для возбуждения спектров материалов с самыми разнообразными физико-химическими свойствами, в том числе тугоплавких и труднолетучих материалов. Исследованию дугового разряда и, в частности, его аналитических возможностей посвящено огромное количество работ. В настоящее время основные явления и закономерности дугового разряда можно считать достаточно твердо установленными, хотя ряд вопросов вследствие многообразия и сложности процессов, происходящих в этом источнике, до сих пор остается не выясненным. Не касаясь здесь подробной характеристики и многих особенностей дугового разряда, описанных в специальных монографиях [838, 980], рассмотрим главный интересующий нас вопрос - - о связи интенсивности излучения аналитической спектральной линии с содержанием определяемого элемента в пробе и с параметрами источника света. [41]
Конкретные, наиболее чувствительные методы анализа различных особо чистых неорганических материалов описаны выборочно и очень кратко; подробные данные можно найти, например, в специальных сборниках методов анализа чистых веществ [518-521], дублирование которых в настоящей книге невозможно и нецелесообразно. Казалось более важным полнее осветить некоторые принципиальные ( в том числе и практические) вопросы, имеющие общее значение для рационального выбора, разработки и использования - метода спектрального анализа при решении той или иной задачи определения следов элементов. [42]