Cтраница 2
Такие результаты могут наблюдаться при анализе следов элементов, содержания которых близки к пределу обнаружения. Качественная их интерпретация такова: всякий единичный Xt или средний хп результат измерения ( в том числе и отрицательный), меньший чем Яхол, считается ( с соответствующей вероятностью ошибки II рода) вызванным сигналом холостой пробы. [16]
К моменту написания данной главы большинство анализов следов элементов в твердых телах выполнялось в основном на масс-спектрометрах с искровым источником ионов и двойной фокусировкой с использованием ионно-чувствительных пластин ( фотопластин) для детектирования ионов. При определении концентраций примесей проводят следующие операции: измеряют оптическую плотность линий, образованных ионами на фотопластине, и относят результаты, соответствующие определяемой примеси, к тому же элементу в эталонном образце, или к примеси - внутреннему стандарту, в частности к основе. При этом вводят ряд корректирующих факторов по методике, изложенной в соответствующих главах этой книги. Затем рассчитывают средние значения концентраций и стандартные отклонения, характеризующие разброс данных относительно среднего значения. Эти конечные результаты представляют в виде таблиц. Весь этот процесс или отдельные его части можно выполнить при помощи ЭВМ. [17]
Важность определения поглощения исходного раствора в анализе следов элементов иногда недооценивается. [18]
В книге даются обзор и оценка масс-спектрометрических методов анализа следов элементов в твердых телах и жидкостях. В качестве источников ионов используются главным образом такие, в которых ионы образуются под действием искрового разряда в вакууме. [19]
Наконец, едва ли не самым существенным параметром метода анализа следов элементов является его способность обнаруживать наименьшие содержания определяемого элемента ( Power of detection или Detectability ( англ. [20]
Наконец, едва ли не самым существенным параметром метода анализа следов элементов является его способность обнаруживать наименьшие содержания определяемого элемента [ Power of detection или Detectability ( англ. [21]
Заштрихованная на рис. 3.1 часть представляет собой область применимости фотометрических методов анализа следов элементов в координатах; определяемое содержание компонента - значение аналитической навески. Пунктирные линии характеризуют абсолютные содержания ( г) определяемого компонента как функцию его относительного содержания и значения аналитической навески. Рассмотрение заштрихованной области показывает, что аналитическая навеска при фотометрическом определении следов элементов может изменяться от макро - до микрограммовых значений. [22]
Как следует из литературы, газовая хроматография широко применяется как метод анализа следов элементов в неорганических материалах. Объясняется это следующими причинами. [23]
В общем в настоящее время ацетилацетон не находит широкого применения при анализе следов элементов. Он, возможно, имеет некоторое значение для отделения бериллия ( стр. [24]
Существуют четыре основных предположения, определяющие, по-видимому, целесообразность применения искрового источника для масс-спектро-графического анализа следов элементов: 1) твердые пробы полностью разрушаются в искровом разряде; 2) эффективность ионизации одинакова для всех элементов и отсутствует эффект влияния основы; 3) идентификация линий при помощи фотопластинки по их положению в спектре надежна и 4) почернение фотоэмульсии пропорционально ионному току. [25]
Без коррекции или компенсации спектральных помех изменение уровня фона может служить источником ошибок при анализе следов элементов при концентрациях, близких к пределу обнаружения. [26]
В некоторых случаях отделение нерастворимых хлоридов, особенно AgCl, может быть выгодным, но при анализе следов элементов это не осуществимо. [27]
Как было рассмотрено ранее, для проведения качественного анализа необходимы большая светосила, хорошая спектральная разрешающая способность ( для анализа следов элементов) и возможность многоэлементного анализа. Для того чтобы выполнить первое требование, используют или камеру с большим относительным отверстием, или высокую щель, или то и другое вместе. На таких приборах хорошо проводить только элементный анализ небольших по массе образцов. Спектрометр простейшего типа состоит из монохроматора с фотоэлектрическим детектором, расположенным за выходной щелью. Такой одноканальный прибор пригоден только для последовательного анализа, что сильно ограничивает его применение в локальном или микроанализе в вышеупомянутых случаях. [28]
Хотя с тех пор опубликован ряд обзорных статей, мне представляется, что настало время для более широкого рассмотрения и обсуждения приемов анализа следов элементов с помощью этого метода. [29]
Несмотря на то что платину иногда используют в качестве материала катода, электролиз с ртутным катодом [140, 141] нашел наиболее широкое применение в анализе следов элементов. Платина, платиноиридиевый ( 10 %) сплав и иногда серебро и свинец используют в качестве анода в виде прямой проволоки, спирали, сетки или пластинки. Выбор материала и формы анода важен с точки зрения анодного окисления электролита, анодного осаждения металлов и растворения материала анода. [30]