Объект - сложная форма
Cтраница 1
Объекты сложной формы со значительной разностью толщин просвечивают по частям. Однако более жесткие сравнительно с обычно используемыми рентгеновскими лучами [ - лучи Со60 допускают значительную разницу в толщинах детали, просвечиваемой за одну экспозицию. [1]
Если объект сложной формы или шероховатый, то при получении голограммы вся поверхность фотоэмульсии подвергается действию лучей, исходящих от каждой точки объекта. Поэтому в целом на фотоэмульсии получается столько различных голограмм, сколько точек имеет объект. Все голограммы претерпевают наложение. Однако на стадии восстановления каждая из них ведет себя как отдельная дифракционная решетка. [2]
Для контроля объектов сложной формы голограмма образцового изделия, может быть рассчитана на ЭВМ и синтезирована искусственно. [3]
При контроле объектов сложной формы достоверный контроль может проводиться с помощью гибкой эластичной матрицы. В реальных крупногабаритных ферромагнитных объектах возможны ложные дефекты в виде рисок, наклепов, ва-боин, неровностей поверхности, которые могут служить причинами перебраковки объектов. В случае использования в матрицах высококоэрцитивных ферритовых сердечников, поля дефектов, более сильно намагниченных объектов контроля, по величине получаются гораздо больше паразитных полей рэсс - ивэния от ложных дефектов, вследствие чего осуществляется отстройка от их влияние. Матричным преобразователем на ферритовы сердечниках уверенно выявляются риски и наклепы с глубиной свыше 1 мм и с ревкиад границами, создающие поля рассеивания достаточно большой величины, свыше ( 40 - 60) а / см. Следовательно, можно заметить, что влияние помех, сорданаемых неровностями поверхности объекта контроля, можно свести к минимуму, если осуществлять контроль при оптимальных значениях намагничивающих нолей и выполнении определенных соотношений между полем локкого дефекта и полем подмагничивания. [4]
Поле, рассеянное объектами сложной формы, формируется в основном конечным числом вторичных локальных источников. Поверхности таких источников имеют сложную топологию, что исключает возможность расчета разности фаз их полей с необходимой точностью. Другими словами, рассматриваемая задача оказывается недоопределенной в части исходных данных. [5]
Будем рассматривать лишь такие объекты сложной формы, отраженное поле от которых формируется несколькими локальными источниками, расположенными на освещенной части их поверхности. [6]
Оно предназначено для создания объектов сложной формы, таких, как поверхности деталей внешнего вида ( самолеты, автомобили, бытовая техника), для проектирования изделий, изготовляемых штамповкой, и оформляющих элементов прессформ и штампов, для проектирования изделий, изготовляемых литьем, и их литьевых форм. [7]
Если поле, отраженное от объектов сложной формы, оказывается случайным, детерминированные диаграммы отраже-яия утрачивают значение, и необходимо определять другие характеристики отраженного поля. [8]
Проекционные приборы особенно удобны при контроле объектов сложной формы. Контур объекта измерения сличается с теоретическим контуром, нанесенным на экран. Теоретический контур выполняется в масштабе, равном увеличению проектора. Иногда он вычерчивается двойным с учетом допустимых отклонений размеров объекта от номинальных значений. [9]
Контур-рамочная развертка позволяет анализировать многоградационные изображения объектов сложной формы и получать по каждому из них упорядоченную информацию. [10]
Интересное явление - локальный характер отражения волн от объектов сложной формы - рассматривается на основе экспериментальных исследований с высоким разрешением по двум координатам ( гл. При отражении волн СВЧ диапазона от объекта сложной формы на его поверхности возникают участки интенсивного отражения. Занимаемая ими площадь на поверхности объекта невелика, что позволяет рассматривать их как источники локального отражения. На этом основании сформулированы основные положения физической модели рассеяния волн от объектов сложной формы - модели локальных источников ( гл. Центральное место в модели локальных когерентных источников занимает проблема суммирования полей в условиях неопределенности фазовых соотношений между ними. Неопределенность понимается в том смысле, что нам неизвестны с необходимой точностью разности фаз между суммируемыми полями. Однако если поля локальных источников колеблющегося объекта многократно складываются и вычитаются, то результат суммирования слабо зависит от точности определения фазовых соотношений между ними. На этом свойстве основано суммирование полей когерентных источников, когда фазовые соотношения между ними определяются с большой погрешностью. Получены аналитические выражения для вероятностных характеристик эффективной площади рассеяния ( гл. В том и другом случае расчетные формулы справедливы для широкого класса функций распределения амплитуд суммарного отраженного поля. [11]
Еще сравнительно недавно для описания поля, отраженного от объектов сложной формы, использовалось всего несколько характеристик; в настоящее время их число возросло до сотни. Следует ожидать, что в будущем роль этих факторов еще более возрастет, что, в свою очередь, приведет к появлению новых характеристик отраженного поля. Тем самым еще более осложнится проблема выбора необходимых характеристик в каждом конкретном случае и к прежней ( весьма запутанной) системе связей добавятся новые взаимосвязи между различными характеристиками. Для преодоления указанных трудностей и эффективного использования всего массива характеристик отраженного поля необходима их систематизация. [12]
LZ - наибольшие продольный и поперечный ( к направле нию наблюдения) размеры объекта сложной формы. В формул ] (4.86) входит среднее значение погрешности 62, при определение которой осуществлялось усреднение двойной суммы (4.3) по ме стоположению источников. Другими словами, если многократнс вычислять значение двойной PVMMKI ( л 31 rmu паопшт. [13]
 |
Схема регистрации параметров электромагнитного поля. [14] |
Накладные ВТП применяют в основном при контроле качества объектов с плоскими поверхностями и объектов сложной формы, а также в тех случаях, когда требуется обеспечить локальность и высокую чувствительность. [15]
Страницы: 1 2 3 4