Диффузный объект

Cтраница 1

Освещение диффузио отражающего объекта А спекл-структурой, создаваемой другим диффузным объектом О.| Продольное смещение б / диффузно отражающего объекта, освещаемого через другой диффузный объект О. [1]

Диффузный объект А освещается не прямо лазером, а через матовое стекло G. От матового стекла G на объект А под некоторым средним углом падения 0 проецируется спекл-структура. [2]

Диффузный объект G, например матовое стекло, освещают лазером и наблюдают спеклы в его изображении, которое получают в плоскости я при помощи объектива О. [3]

Регистрация двух. [4]

Диффузным объектом G может быть, например, матовое стекло. Выполнения указанных условий можно добиться, подобрав соответствующим образом длины волн А. Поскольку система имеет круговую симметрию, рассматривая негатив в схеме рис. 69, мы снова будем наблюдать кольца. [5]

Определение продольного смещения диффузного объекта, освещаемого вспомогательной спекл-структурой. [6]

Когда диффузный объект, освещаемый лазером, подвергается продольному смещению ( в направлении наблюдения), наблюдаемая в плоскости изображения спекл-структура изменяется мало. [7]

Зависимость шероховатости 0 от контраста у спекл-стру-ктуры при использовании источ - 0 5 ника белого света ( Я 0 5 мкм, Lc 1 5мкм. [8]

Если же диффузный объект освещается источником, излучение которого обладает временной когерентностью, но в пространстве когерентно лишь частично, то контраст спекл-структуры уменьшается. В этом случае контраст спекл-структуры сильно зависит от шероховатости диффузной поверхности и появляется возможность определения шероховатости по контрасту спекл-структуры. Конденсор С проецирует изображение монохроматического источника S на малое отверстие Т, помещенное в фокусе объектива L. Сформированный пучок освещает диффузный прозрачный объект G, например матовое стекло. Два объектива 0 и Oz формируют изображение объекта О на чувствительной поверхности фотоприемника R. Перед фотонриемником R помещается экран с отверстием, диаметр которого меньше диаметра пятен спекл-структуры. [9]

Топографическая и спекл-интерферометрия диффузных объектов основаны на когерентной суперпозиции диффузно рассеянных полей ( спекл-полей), рассеиваемых голограммами и спеклограммами. Наблюдаемые гологра-фические и спекл-интерферограммы представляют собой низкочастотные периодические распределения интенсивности, модулированные относительно высокочастотными спекл-структурами. Размеры и, что существенно, форма спеклов при этом определяются размером и формой входного зрачка наблюдательной системы. Поэтому выбор геометрических параметров входного зрачка может оказывать влияние на характер наблюдаемой интерференционной картины. В частности, чем больше апертура наблюдательной системы, и, следовательно, чем меньше размеры спеклов, тем меньшее взаимное смещение этих спеклов приводит к нарушению их корреляции. [10]

Пользуясь расчетными формулами освещенности для диффузного объекта, возможно восстановление значения ат по всей сцене на основании анализа аэрофотографии района. Так как на фотографии запечатлена не собственно освещенность, а производная величина - оптическая плотность, то требуются дополнительные расчеты с корректными данными для перехода от оптической плотности к освещенности и коэффициенту яркости. [11]

Фоторегистрация в плоскости Н двух смешенных.| Кривые контраста для полос в спектре. [12]

В том случае, когда диффузным объектом G служит матовое стекло, контраст полос уменьшается по мере того, как угол 6 увеличивается. Если в первой и второй экспозициях направления поляризации световых пучков образуют угол 90, то две спекл-структуры, регистрируемые на фотопластинке Н, не имеют никакой корреляции. [13]

Используются для регистрации перемещений и деформаций диффузных объектов, измерения шероховатости поверхностей, в оптич. [14]

Во многих случаях для исследований как диффузных объектов с прямым освещением, так и различных потоков полезно применять голограммы двух или многократных экспозиций. [15]

Страницы: 1 2 3 4