Зависимость - почернение
Cтраница 3
При постоянном времени экспозиции t величина Н изменяется только в результате изменения освещенности Е ( последняя пропорциональна интенсивности света I), и тогда характеристическая кривая выражает зависимость почернения от освещенности или интенсивности света. Пользуясь характеристической кривой, можно определять освещенности различных участков пластинки, если измерены их почернения. [31]
Если взять одинаковую пленку и экспонировать ее в течение различного времени на абсолютно однотипных режимах ( например, рентгеновским излучением при постоянных значениях напряжения и тока трубки), то после фотообработки ( опять-таки в идентичных условиях) получим зависимость почернения пленки от времени экспозиции. Эта зависимость, выраженная графически ( рис. 7), носит название кривой почернения, или характеристической кривой. [32]
С помощью установки, схема которой дана на рис. 4, можно получать снимки при различных напряжениях на кварце. Это дает возможность установить зависимость почернения пластинки от напряжения. [33]
Аналогичный график можно составить и при постоянной интенсивности излучения, но при различном времени экспозиции; в этом случае на графике будет получена зависимость степени почернения пленки от времени воздействия на нее излучения постоянной интенсивности. В обоих случаях график дает зависимость почернения от дозы излучения. [35]
Полученные результаты могут быть объяснены следующим образом. Примерно аналогичный ход кривых выгорания и зависимости почернения от силы тока для хлоридов, фторидов, нитратов и окислов может быть получен в том случае, если все эти соединения в разряде переходят в одну и ту же химическую форму, например в случае восстановления или термического разложения до свободного металла. [37]
Участок ЛБ - это область недодержек, на котором зависимость почернения S от освещенности Е выражается полого поднимающейся кривой. [38]
Важно то, что на электронограммах, снятых с помощью вращающихся секторов, нет большого различия в плотностях почернения в ее центральной и периферийной частях, вследствие чего часто отпадает необходимость та поправки на зависимости почернения от экспозиции. [39]
Фотографический метод дозиметрического контроля основан на сравнении оптической плотности почернения пленок с контрольными пленками, которые облучены известной дозой f - излучения. Фотопленку помещают в специальные светонепроницаемые пластмассовые кассеты. Чтобы исключить зависимость почернения фотопленки от энергии излучения ( ход с жесткостью), кассету окружают свинцо -, вым фильтром толщиной 0 75 мм. Степень почернения рабочих и контрольных пленок после проявления и фиксирования определяется денситометром. [40]
Кристалл кварца с отражающими плоскостями ( 1120) изогнут по радиусу 500 мм. Количественно гафний определяют по линии Lp, в первом порядке отражения. Градуировочные прямые, которые выражают зависимость почернения линий от концентрации элемента, строятся по синтетическим эталонам, составленным из смесей окислов гафния, циркония и титана. [41]
Чувствительность обнаружения зависит от массы ионов и от их энергии. Такая же зависимости типа М - была найдена Бурле-фингером и Эвальдом [50], определявшими абсолютную чувствительность пластинок к ионам различных масс подсчетом зерен. Эта же зависимость была найдена и Рудольфом [48], исследовавшим для пластинок Qi относительным методом по кривым почернения зависимость почернения от массы иона. [42]
В соответствии с известным критерием Кайзера / Л Ф - / ф2 ] / 2оф и пользуясь тем, что зависимость почернения от логарифма концентрации в данных случаях линейна, были найдены границы чувствительности Сед 2 К2аХОл определения ряда элементов. [43]
Всевозрастающая интенсивность строительства и сокращение сроков его осуществления требуют высокопроизводительных методов контроля и максимального сокращения времени от момента выполнения контроля до получения его результатов. К сожалению, гамма - и рентгенодефектоскопия являются пока дорогими и малопроизводительными методами. Например, для регистрации гамма - и рентгенолучей, прошедших через контролируемое изделие, применяется фотографический метод, основанный на зависимости почернения галоидно-серебряных фотопленок от интенсивности излучения. Для визуализации пленок используется химический метод, который включает проявление, промывку, закрепление, вторичную промывку и сушку пленок. Для выполнения этих операций необходимы фотолаборатория и набор дорогостоящих химических реактивов и фотоматериалов, причем получение готового рентгено - или гамма-снимков занимает несколько часов. [44]
В соответствии с известным критерием Кайзера / л ф - / ф2 ] / 2 - Сф и пользуясь тем, что зависимость почернения от логарифма концентрации в данных случаях линейна, были найдены границы чувствительности Сед 2 / 2зхол определения ряда элементов. [45]
Страницы: 1 2 3 4